Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Мероприятия

Список предстоящих мероприятий Keysight в России

 

Компания Keysight Technologies принимает участие в многочисленных выставках и конференциях, а также организует бесплатные технические семинары для своих заказчиков. 

Будем рады видеть Вас на наших мероприятиях в числе наших гостей! 

  

Список ближайших мероприятий
Мероприятие Описание   Даты             Город Подробнее

Серия семинаров HOTSPOTS:

Основы измерений параметров ВЧ- и СВЧ-сигналов

Cеминар по основам ВЧ- и СВЧ-измерений, в рамках которого будут обсуждаться основные виды ВЧ-измерений.

Программа данной сессии включает следующие темы:

  • Основы анализа спектра
  • Основы векторного анализа сигналов
  • Основы измерений ВЧ-мощности
  • Основы анализа цепей
  • Основы разработки и моделирования ВЧ-устройств

18 октября

 

Ижевск

 

 

Подробнее
Семинар Основы метрологии В ходе семинара будут представлены новейшие технологии, разработанные для повышения точности, воспроизводимости и прослеживаемости измерений метрологического класса. 17 октября Самара Подробнее
Выставка Силовая электроника 2017 Компания Keysight Technologies представит на выставке широчайший спектр контрольно-измерительного оборудования, в том числе анализаторы питания и качества электрической энергии, а также полупроводниковые анализаторы/характериографы и полную линейку источников питания постоянного и переменного тока. 24-26 октября Москва, Крокус-Экспо Подробнее
Разработка и внедрение автоматизированных комплексов по тестированию радиоэлектронных устройств Семинар, организованный авторизованным партнером Keysight АО Акметрон, будет посвящен тестированию радиоэлектронных устройств с помощью автоматизированных комплексов  01 ноября Рязань Подробнее

Серия семинаров HOTSPOTS:

Основы измерений параметров материалов и устройств

Cеминар по основам измерений параметров материалов и устройств, в рамках которого будут обсуждаться следующие темы:

  • Тестирование параметров материалов: проблемы и решения
  • Перспективные решения для измерений импеданса
  • Тестирование параметров материалов и устройств в диапазоне частот до 1,5 ТГц
  • Тестирование электрических параметров устройств на основе GaN и SiC с помощью анализатора мощных устройств/характериографа Keysight серии B1505A
     
22 ноября Санкт-Петербург, в рамках выставки РАДЭЛ Подробнее

* Прием заявок на семинары заканчивается за 3 дня до начала мероприятия. Количество мест может быть ограничено.