Parla con un Esperto

Tour de France – Grenoble, le 8 mars 2012 : Innovations des techniques de mesure selon Keysight

Seminar | Where & When

En 2012, Keysight Technologies organise plus de 20 séminaires en France sur des sujets techniques variés. Un des thèmes sélectionnés, la conception et l’analyse de liens rapides sera présenté à Grenoble, le jeudi 8 mars prochain. Cette journée est organisée avec notre partenaire MB Electronique, et se déroulera dans les locaux de l’IMEP, Minatec. Ce séminaire se déroulera en trois parties.

La matinée sera axée sur les bases de l’analyse et le design de liens numériques rapides. L'intégrité du signal est l'un des facteurs clés pour atteindre la performance optimale carte/système. Ces nouvelles conceptions vous imposent une maîtrise dans la modélisation de vos interconnections et dans l’analyse du jitter et du diagramme de l’oeil. Nous présenterons nos différents outils d’analyses ainsi que les problématiques de mesures non intrusives avec des démonstrations sur une carte de test fournie par la cellule intégrité de signal à THALES Communications & Security.

Dans l’après-midi, nous verrons d’abord comment Keysight peut vous aider à optimiser vos systèmes de test fonctionnel grâce au portfolio Keysight complet de produits conforme au standard PXI. Ensuite, nous verrons de façon plus approfondie, les solutions Keysight modulaires PXI pour développer des solutions de mesure large bande.

Pour finir, nous verrons les différentes méthodes de test paramétriques.

Découvrez comment résoudre vos problèmes d’aujourd’hui avec ces instruments qui sont prêts à vous suivre dans vos défis de demain. Venez discuter avec nos experts et trouvez une solution adaptée à vos besoins. Toutes les présentations de cette journée seront données en français, avec des supports en anglais.


 

 

Agenda
9h00 Accueil
9h15 Principaux défis dans l’analyse et le design de liens numériques rapides
9h45 Conception et étude de canal avec signaux rapides avec ADS
 
10h45 Pause
 
11h00 Techniques de mesure sur signaux à front rapides et signaux séries
 
12h00 Déjeuner
 
13h00 Solutions de test fonctionnel en modulaire (PXI – AXI)
 
14h00  Keysight Modular products provide the building blocks for creating wideband measurement
15h00 Pause
15h15  Inventaire des méthodes de test paramétrique
 
16h15  Démonstration et discussion
 
17h00  Conclusion
 




Résumé des présentations

Principaux défis dans l’analyse et le design de liens numériques rapides
De la simulation à la validation de la couche physique, du test fonctionnel à l’analyse de protocole, Keysight Technologies, le premier fournisseur d’équipement de test et mesure et logiciel EDA mondial vous propose toute son expertise métrologique au service de la conception et la validation de vos applications. 

Conception et étude de canal avec signaux rapides avec ADS 2011.10
Etude de cas sur une carte de la cellule intégrité de signal à THALES Communications & Security. Utilisation du module Front-Panel pour l’analyse TDR et introduction au « Channel Simulator » pour l’analyse du diagramme de l’œil et jitter dans ADS 2011.10. Introduction au module de génération de modèles IBIS AMI dans SystemVue 2011.10 et utilisation dans ADS

Techniques de mesure sur signaux à front rapides et signaux séries
Lors de la mesure de signaux à front raides ou de signaux de données à grande vitesse avec un oscilloscope il est indispensable d’utiliser des sondes actives hautes performances non intrusives électriquement afin de mettre au point votre application. Lors du choix de la sonde et à la meilleure façon de l'utiliser, les Ingénieurs doivent examiner tous les attributs d'une sonde - impédance d'entrée, bande passante, linéarité, accessoires de connexion, ergonomie, etc… Cette présentation aborde les problèmes de mesure régulièrement rencontrés, et expose de nouvelles techniques pour résoudre ces problèmes. Nous allons couvrir un large éventail de questions connexes telles que la gestion des phénomènes de résonance liés aux accessoires des sondes, la réalisation d’une connexion physique déportée sans perte de bande passante ainsi que les possibilités de mesures en enceinte thermique sur une plage de température étendue.

Solutions de test fonctionnel en modulaire (PXI – AXI)
Choosing the right tools for your test systems. Learn about the tools available and gain insight into which tools offer the best performance for your electronic functional test needs.

Keysight Modular products provide the building blocks for creating wideband measurement solutions
In this paper we will discuss some of the modular hardware available today that can be used to create solutions which are uniquely able to provide cost effective wideband RF solutions for vector analysis and radar test.


Keysight Modular products provide the building blocks for creating wideband measurement solutions
Keysight semiconductor analyzer is the crown of SMU technology merging with superior user interface for measurement and analysis. 4155/56 is de facto standard and widely used by customers who are working for low and medium power devices. It covers up to 200V and 1A with 1fA resolution. As the next generation of 4155/56, we have now B1500A. In addition to all of 4155/56 measurement functions, B1500A supports Quasi and multi-frequency CV measurement, pulse generation up to +/- 40V, waveform generation and fast measurement capabilities. These measurement hardware are controlled by MS window based user interface, called EasyEXPERT. It provides easy-to-use test and analysis environment with menu driven and fill-in-the-blank capability. The furnished library of over 200 user-modifiable application tests makes it easy to begin making complicated measurements immediately. The latest analyzer, B1505A is for high power device and new material evaluation, with covering up to 40A and 3000V. Standard test fixture and prober accessories encourage safety testing for both package and on-wafer device measurement. Real curve tracer mode helps checking the device quickly. Our instrument and analyzer contribute to R&D, reliability analysis for low and high voltage semiconductor device and new materials like MEMS, carbon nanotube, SiC, power device. With those products, we are contributing to following customer and market, like research and education, semiconductor industry.

Pour voir la liste complète des stops du Tour de France Keysight 2012, cliquer ici. 

 

Where & When

Date(s) Location For more information
2012-03-08 09:00 — 17:00
Local
Grenoble Register On-line