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Fondamenti di Misure su Materiali & Dispositivi

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Fondamenti di Misure su Materiali & Dispositivi - Agenda
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Benvenuto & Introduzione – Keysight
Argomento 1: Sfide & Soluzioni in applicazioni di test per l’Ingegneria e la Scienza dei Materiali
Pausa Caffè e Incontri Informali
Argomento 2: Soluzioni di Test Avanzate per la Misura di Impedenza
Pausa Pranzo
Argomento 3: Caratterizzazione di Dispositivi e Materiali dalla continua alle onde millmetriche &THz
Pausa Caffè e Incontri Informali
Argomento 4: Caratterizzazione Elettrica di dispositivi in GaN & SiC con lo strumento Keysight B1505A
Conclusioni

Presentazioni & Sintesi

Benvenuto e Introduzione: Keysight nella Misura & Collaudo

Comprendere le proprietà dei materiali (sia naturali che artificiali) è importante per diversi motivi.

I materiali metallici, semiconduttori, organici (come i polimeri) e semiconduttori composti ci hanno offerto numerosi vantaggi durante il secolo scorso. Ora, dei materiali emergenti di nuovo tipo, come gli ossidi di semiconduttori, i nanotubi di carbonio (CNT) e il grafene, promettono di offrirci altrettanti nuovi vantaggi nel corso del prossimo secolo. Keysight Technologies continua a sviluppare e a introdurre sul mercato nuove apparecchiature di misura e collaudo per stare al passo con le mutevoli esigenze dei ricercatori. Questa presentazione offre una panoramica delle principali tecnologie emergenti e di come Keysight offra delle soluzioni capaci di superare anche le sfide della misura più difficili.
 

Argomento 1: Sfide e Soluzioni in applicazioni di test per l’Ingegneria e la Scienza dei Materiali

Il test nel campo della scienza dei materiali è un’attività molto impegnativa, poiché ogni tipo di materiale ha delle caratteristiche peculiari in termini di proprietà elettriche, ottiche e strutturali. Sono proprio queste peculiari proprietà dei materiali che permettono di realizzare dispositivi e componenti innovativi, come celle solari, sensori, dispositivi logici, memorie, interconnessioni, display, emettitori e materiali per contenitori adatti ad eseguire i loro specifici compiti. In questa presentazione illustreremo i metodi tipici di misura elettrica applicabili a diversi tipi di materiali e presenteremo strumenti di misura e soluzioni proposte da Keysight per predisporre un banco di prova dedicato al test dei materiali.

Argomento 2: Soluzioni di Test Avanzate per la Misura di Impedenza

Questa presentazione è focalizzata sulle tecniche fondamentali di misura dell’impedenza e le sue applicazioni. Inoltre, verranno spiegate le tecniche corrette per effettuare misure di impedenza accurate su componenti quali condensatori, induttori e trasformatori. Avrete l’opportunità di comprendere le ragioni che generano discrepanza tra risultati di misura, le cause di errori di misura e come poter compensare correttamente questi errori. Una discussione su vantaggi e svantaggi delle diverse tecniche di misura disponibili vi aiuterà a scegliere correttamente lo strumento più adatto a soddisfare le vostre esigenze.

Argomento 3: Caratterizzazione di Dispositivi & Materiali dalla continua alle onde millimetriche & THz

Dai materiali radioassorbenti ai substrati dielettrici, dagli alimenti dei forni a microonde ai biocarburanti, l’accurata caratterizzazione delle loro proprietà elettromagnetiche alle frequenze delle microonde e delle onde millimetriche permette di ricavare le informazioni critiche necessarie per le attività di progettazione circuitale, modellizzazione, ricerca, produzione e controllo qualità. In questa presentazione illustreremo i diversi tipi di metodi utilizzati per misurare le proprietà dielettriche di materiali solidi e liquidi e discuteremo dei criteri da prendere in considerazione quando si deve scegliere una tecnica di misura. Verrà posta particolare attenzione sulle tecniche utili per misurare la permettività relativa e l’angolo di perdita (tan delta) dei materiali dielettrici, sia liquidi che solidi, su una gamma di frequenza che spazia da 100 MHz a 1,1 THz.

 

Argomento 4: Caratterizzazione Elettrica di dispositivi in GaN & SiC con lo strumento Keysight B1505A

Il rapido progresso della tecnologia dei dispositivi elettronici sta rendendo obsolete le apparecchiature di misure tradizionali. I test di conduzione con correnti superiori a 1000 A, le misure di corrente di perdita inferiori al pico-ampere e la valutazione delle tensioni di rottura superiori a 10 kV stanno diventando sempre più importanti. In questa presentazione illustreremo le tipiche misure di caratterizzazione IV e CV su dispositivi di potenza in GaN e SiC utilizzando l’analizzatore di dispositivi di potenza Keysight B1505A.
 

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Dove e Quando
 

Data Luogo  Lingua di presentazione  Per maggiori informazioni/Scopri di più 
2017-10-24 Kazan, Russia Russo Registrati qui
2017-10-26 St.Petersburg, Russia Russo Registrati qui
2017-11-22 St.Petersburg, Russia Russo Registrati qui
2017-11-30 Friedrichshafen, Germany Tedesco Registrati qui