Here’s the page we think you wanted. See search results instead:

 

Sprechen Sie mit einem Experten

Mate­rial- und Bau­teil­analysen

Weitere Informationen zum HOTSPOTS Programm

Material- und Bau­teil­messungen – Agenda
Den Anmeldelink finden Sie am Ende dieser Webseite
Begrüßung und Über­blick – Keysight
Thema 1: Heraus­for­de­rungen und Test­lösungen für die Mate­rial­wissenschaften/-ent­wick­lung
Erfrischungspause und Gelegenheit zum persönlichen Kennenlernen
Thema 2: Hoch­entwickelte Test­lösungen für Impedanzmessungen
Mittagessen
Thema 3: Bau­teil- und Mate­rial­charakte­ri­sie­rung von DC bis zu Milli­meter­wellen und THz
Erfrischungspause und Gelegenheit zum persönlichen Kennenlernen
Thema 4: Elek­trische Charakte­ri­sie­rung von GaN- und SiC-Bau­teilen mit dem Leistungsbauteilanaly­sator B1505A
Ende der Veran­stal­tung

Mate­rial- und Bau­teil­analysen

Zusammenfassungen der Präsen­tationen

Begrüßung und Eröffnung des Seminars über Keysight Mess- und Test­lösungen

Die Eigen­schaften von Mate­ri­alien (sowohl natür­lich vorkommender als auch tech­nisch hergestellter) zu kennen, ist aus vielen Gründen wichtig.
Mate­ri­alien wie Metalle, Halb­leiter, organische Mate­ri­alien (beispiels­weise Polymere) oder Verbin­dungs­halb­leiter haben der Menschheit im Laufe des vorigen Jahrhunderts großen Nutzen gebracht. Neue und in der Ent­wick­lung befindliche Mate­ri­alien wie Oxid­halb­leiter, Kohlenstoff-Nanoröhrchen (CNT, Carbon Nano Tubes) und Graphene versprechen einen ähnliche großen Nutzen für das jetzige Jahrhundert. Keysight Technologies wird, wie bisher, auch in Zukunft Mess- und Test­lösungen bereitstellen, die den ständig steigenden Anfor­de­rungen der Mate­rialwissenschaftler genügen. Diese Präsentation gibt einen Überblick über die wichtigsten aufkommenden Techno­logien und Keysights Lösungen für die enormen mess­technischen Heraus­for­de­rungen, die damit einhergehen.

Thema 1: Heraus­for­de­rungen und Test­lösungen für die Mate­rial­wissenschaft/-ent­wick­lung

Messungen im Rahmen von mate­rial­wissenschaftichen Analysen sind eine heraus­fordernde Aufgabe, weil jedes Material seine eigenen elek­trischen, optischen und strukturellen Eigen­schaften besitzt. Es sind diese einzig­artigen Mate­rial­eigen­schaften, die es ermög­lichen, dass Bau­teile und Kom­po­nenten wie Solarzellen, Sensoren, Logikbausteine, Speicher, Steck­ver­binder, Bild­schirme, Sender und Bau­teil­gehäuse ihre speziellen Funk­tionen erfüllen. In dieser Präsen­tation erörtern wir typische elek­trische Mess­verfahren zur Charakte­ri­sie­rung unter­schied­lichster Mate­ri­alien und stellen Keysights Angebot an Mess­geräten und Test­lösungen für die Mate­rial­wissenschaften vor.

Thema 2: Hoch­entwickelte Test­lösungen für Impedanzmessungen

In dieser Präsentation geht es um grund­legende Impedanzmessungen und deren Anwen­dungen. Ins­beson­dere wird gezeigt, wie man hoch­genaue Impedanzmessungen an Bau­teilen wie Konden­satoren, Induk­tivi­täten und Über­tragern durch­führt. Sie werden lernen, warum Mess­werte streuen, welche Ursachen Mess­fehler haben können und wie man diese Fehler kompensiert. Darüber hinaus werden die Vor- und Nachteile der verschie­denen Mess­verfahren erörtert; das wird Ihnen helfen, das für Ihre Anwen­dung opti­male Mess­gerät auszuwählen.

Thema 3: Bau­teil- und Mate­rial­charakte­ri­sie­rung von DC bis zu Milli­meter­wellen und THz

Von Tarnkappen­mate­ri­alien bis zu dielektrischen Substraten, von mikrowellentauglichen Lebensmitteln bis zu Biokraftstoffen – die genaue Charakte­ri­sie­rung der elektromagnetischen Eigen­schaften dieser Mate­ri­alien bei Frequenzen im Mikrowellen- und Milli­meter­wellen­bereich liefert Inge­nieuren wichtige Informa­tionen, die für die Mate­rial- und Schal­tungs­ent­wick­lung, Modellierung, Forschung, Produk­tion und Qualitätssicherung unverzichtbar sind. Diese Präsen­tation gibt einen Überblick über die verschie­denen Methoden zur Messung der dielektrischen Eigen­schaften von Festkörpern und Flüssig­keiten und erörtert die Kriterien, die Sie bei der Aus­wahl eines Mess­verfahrens beachten sollten. Der Schwerpunkt liegt auf Verfahren zur Messung der rela­tiven Dielek­tri­zi­täts­kon­stanten und des Verlustwinkels dielektrischer Mate­ri­alien (sowohl fester als auch flüssiger) über den Frequenz­bereich von 100 MHz bis 1,1 THz.

Thema 4: Elek­trische Charakte­ri­sie­rung von GaN- und SiC-Bau­teilen mit dem Leistungsbauteilanaly­sator B1505A

Durch die schnelle Weiter­entwick­lung der Techno­logien für Leistungsbauteile werden herkömm­liche Mess­geräte zuneh­mend obsolet. Hochstromtests bei über 1000A, Leckstrom­messungen im Sub-Picoampere-Bereich und die Messung von Durchbruch­span­nungen bis zu 10 kV und mehr gewinnen zuneh­mend an Bedeu­tung. In dieser Präsen­tation erörtern wir typische IU- und CU-Messungen an GaN- und SiC-Leistungs­halb­leitern mit dem Leistungsbauteilanaly­sator Keysight B1505A. 

 

Über die Links in der nachstehenden Tabelle können Sie sich zu den einzelnen Veranstaltungen anmelden

Sie erhalten weitere Informationen via E-Mail über kommende HOTSPOT Seminare, sobald uns diese vorliegen.

 

Wann & Wo
 

Datum Veranstaltungsort Sprache Weitere Informationen
2017-09-19 Tomsk, Russia Russisch Hier registrieren
2017-09-20 Freiburg, Germany Deutsch Hier registrieren
2017-10-19 Pisa, Italy Italienisch Hier registrieren
2017-10-11 EUMW 2017, (Nuremberg) Englisch Hier registrieren
2017-10-24 Kazan, Russia Russisch Hier registrieren
2017-10-26 St.Petersburg, Russia Russisch Hier registrieren
2017-11-30 Friedrichshafen, Germany Deutsch Hier registrieren