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RF-IV法によるインピーダンス測定のネットワーク測定法に対する優位性(AN 1369-2) 
本アプリケーション・ノートでは、RF I-V測定法の説明を中心に、インピーダンス・アナライザとネットワーク・アナライザの違いを述べており、アプリケーションに応じた最適な測定方法を選択するために役立つ情報を提...

アプリケーション・ノート 2001-07-19

Digital Basics for Cable Television Systems 
If you install, upgrade, or maintain digital or mixed digital/analog systems, this book is your complete guide to this new world.

アプリケーション・ノート 2001-07-19

 
Up-and-Down Programming DUT Power Supplies 
There seems to be some confusion on what the current limits are when using the DUT supplies in the Keysight 3070 system. While this article is not meant to be an exhaustive treatise on the subject, a little clarification might help.

アプリケーション・ノート 2001-05-17

PDF PDF 23 KB
Running Rocky Mountain Basic from Board Test Basic 
Many of you have existing programs written in Rocky Mountain Basic (RM-Basic), or have found the RM-Basic program examples given in Keysight manuals, and wish to use them to do external instrumentation control using the Keysight 3070 Board Test Family.

アプリケーション・ノート 2001-05-17

PDF PDF 23 KB
Fundamentals of RF and Microwave Power Measurements (AN 64-1C) 
This Application Note is for information only. Keysight no longer sells or supports these products.

アプリケーション・ノート 2001-04-16

PDF PDF 2.21 MB
LCR/Impedance Measurement Basics 
presents impedance, component value definitions, typical measurement problemsand their solutions, and error correction and compensation techniques.

アプリケーション・ノート 2001-03-28

 
Electrical In-circuit Test Methods for Limited-access Boards 
This paper surveys the various electrical test methods and tools available to address testing boards that lack full electrical access.

アプリケーション・ノート 2001-02-27

PDF PDF 47 KB
Improved Fault Coverage in a Combined X-ray and In-Circuit Test Environment 
Cutting functional test failures in half and doubling the faults detected at process test! These are some of the case study results observed in combined X-ray and in-circuit test environments.

アプリケーション・ノート 2001-02-27

PDF PDF 575 KB
The Why, Where, What, How, and When of X-ray Test 
How do the different AXI technologies work? What are the appropriate uses of 2D vs 3D X-ray? Where in the mfg process should AXI be placed? How can AXI be used to improve the mfg process?

アプリケーション・ノート 2000-11-01

PDF PDF 1.30 MB
Maximizing Accuracy in Noise Figure Measurements (PN 85719A-1) 
This Product Note discusses factors that affect accuracy with the 85719A Noise Figure Measurement System. Statistically generated curves of noise figure measurements uncertainly are also included.

アプリケーション・ノート 2000-10-01

PDF PDF 661 KB
Optical Spectrum Analysis Basics (AN 1550-4) 
This Application Note is intended to provide the reader with a basic understanding of optical spectrum analyzers, their technologies, specifications, and applications. Chapter 1 describes interferometer-based and diffraction- grating-based optical spectrum analyzers. Chapter 2 defines many of the...

アプリケーション・ノート 2000-09-01

Techniques for Programming the 892X Family of Instruments (PN 892X) 
This Product Note describes some key programming techniques for the Keysight 892X family of products. This Note can be used as a training tool for users that are new to programming test equipment, or it can be used by experienced programmers that need to know about unique programming required for...

アプリケーション・ノート 2000-09-01

PDF PDF 186 KB
センサ自動データ集録/制御システムの活用のために AN DAS-1 
センサの開発および応用は,電子・電気工業,機械工業,化学工業などあらゆる産業分野でこれからの技術開発に欠くことのできない重要な要素として脚光を浴びています。このハンドブックは,物理量の測定および測定...

アプリケーション・ノート 2000-08-30

PDF PDF 1.61 MB
Fundamentals of Signal Analysis (AN 243) 
This Application Note is a primer for those who are unfamiliar with the advantages of analysis in the frequency and modal domains and with the class of analyzers we call dynamic signal analyzers. It explains the time, frequency and modal domains and provides an overview of the major functions and...

アプリケーション・ノート 2000-06-01

PDF PDF 3.37 MB
Fundamentals of Modal Testing (AN 243-3) 
This modal test 56 page Application Note provides an verview of structural dynamics theory, the measurement process for acquiring frequency response data, parameter estimation (curve fitting), and the analytical techniques of structural analysis and their relation to experimental testing (such...

アプリケーション・ノート 2000-05-01

8つのヒントアナログRF信号発生器によるより優れた測定 
本書は、RFアナログ信号源を使用した測定の確度向上のためのガイドです。次のヒントをテスト・セットアップでご活用されて、確度向上にお役立てください。

アプリケーション・ノート 2000-04-21

4つのヒント マイクロ波カウンタのより優れた測定 
技術の進歩につれ、測定器の各々の機能が重複する傾向が増えてきました。例えばスペクトラム・アナライザは周波数測定(かってはカウンタに限定された機能)、マイクロ波カウンタはパワー測定(同じくパワー・メータに...

アプリケーション・ノート 2000-04-20

8つのヒント RF カウンタのより優れた測定 
一見したところ、エレクトロニック・カウンタは全くシンプルな測定器のように思えます。信号を入力すれば、周波数やその他のパラメータが桁で表示されるからです。カウンタはつなげば使える機器のように考えがちで...

アプリケーション・ノート 2000-04-18

エンジニアのためのインピーダンス測定の8つのヒントAN346-4 
インピーダンスは電子部品の特性評価に使用する重要なパラメータです。インピーダンス(Z)はある周波数における電子部品の交流電流の流れを妨げる量として定義され、数学的には複素平面上のベクトル量として表されま...

アプリケーション・ノート 2000-04-13

Comparing the Accuracy and Repeatability of On-Wafer CalibrationTechniques to 110 GHz 
by Cascade Microtech

アプリケーション・ノート 2000-03-16

PDF PDF 177 KB
Keysight TestJet Technology White Paper 
This paper describes the Keysight TestJet technique, which makes use of a property of most digital ICs in use in the mid-1990s: the lead frame.

アプリケーション・ノート 2000-01-01

 
8 More Hints for Making Better Scopes Measurements 
This Application Note contains a variety of hints to help you understand and improve your use of oscilloscopes. It includes the following 8 hints: 1. Don't forget to check that probe 2. A quick, easy way to troubleshoot mixed hardware/software prototypes 3. Using scopes to measure noisy signals 4...

アプリケーション・ノート 1999-12-01

PDF PDF 840 KB
Test Strategy for Complex Printed Circuit Board Assemblies 
This paper proposes a new test strategy for complex boards since the trend in Printed Circuit Board Assembly (PCBA) technology is towards higher complexity.

アプリケーション・ノート 1999-02-22

PDF PDF 195 KB
8 Hints for Debugging Siemens MCU-based Designs 
A new type of instrument, the mixed signal oscilloscope (MSO), closes the gap in MCU debugging tools. The Keysight 54645D from Hewlett-Packard combines two analog scope channels with 16 digital logic channels, so you can monitor analog and digital lines at the same time. This MSO offers more...

アプリケーション・ノート 1998-11-01

PDF PDF 736 KB
Fundamentals of RF and Microwave Power Measurements (AN 64-1A) 
This Application Note is for information only. Keysight no longer sells or supports these products.

アプリケーション・ノート 1998-06-01

PDF PDF 720 KB

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