전문가 상담

고객맞춤형 테스트 시스템 구축

Keysight - Build Your Own

처음부터 다시 시작하든, 기존 시스템을 갱신하든, 키사이트 시스템 구성요소는 시스템을 간편하게 통합할 수 있게 해줍니다. System-Ready 계측기, 개방형 소프트웨어 및 PC-표준 I/O(LXI/USB/VXI/PXI)가 지원되므로 우수한 설계를 위한 최상의 툴을 확보하게 됩니다. 아래 링크를 클릭하면 키사이트의 리소스와 테스트 장비를 최대한 활용할 수 있는 방법을 볼 수 있습니다.

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정렬방식:
Keysight VEE 고급 
이 과정은 VEE 고급 프로그래밍을 다룹니다.

교육

 
키사이트 VEE 소개 
키사이트테크놀로지스의 비주얼 엔지니어링 환경(키사이트 VEE Pro)을 통해 테스트 소프트웨어 개발 방법을 배워보십시오. - 4일 과정. 가격 : 748,000원 (부가세 포함)

교육

 
Best practices in implementing boundary scan on limited access boards 
Original broadcast December 18, 2014

웹캐스트 - recorded

 
Boundary Scan Webcast Series 
Live and on-demand webcasts

웹캐스트

 
Common DFT guidelines for implementing boundary scan on limited access boards webcast 
Original broadcast September 11, 2014

웹캐스트 - recorded

 
DesignCon 2015 
Jan 27-29, 2014; Santa Clara Convention Center

트래이드쇼

 
Embedded testing of Intel Haswell and Broadwell chipsets on limited access client boards webcast 
Original broadcast November 13, 2014

웹캐스트 - recorded

 
Extending boundary scan tests to improve test coverage of limited access boards webcast 
Original broadcast September 25, 2014

웹캐스트 - recorded

 
Introduction to the Keysight x1149 Boundary Scan Analyzer Webcast 
Original broadcast August 26, 2014; 9am PT / 12pm ET

웹캐스트 - recorded

 
Maximizing test coverage of multiple limited access boards by linking multiple boundary scan chains 
Original broadcast October 9, 2014

웹캐스트 - recorded

 
Quickly Identify and Characterize Temperature Measurement Points Webcast 
Live broadcast February 3, 2015; 10am PT / 1pm ET

웹캐스트

 
Switching Solution Webcast 
Original broadcast December 16, 2013

웹캐스트 - recorded

 
Testing DDR on limited access boards using boundary scan silicon nails 
Original broadcast October 30, 2014

웹캐스트 - recorded

 
Testing limited access SSD boards with boundary scan and external instruments webcast 
Original broadcast December 4, 2014

웹캐스트 - recorded