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高速デジタル

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デジタル規格では、世代交代のたびに新たなリスクが生じます。弊社の製品を開発したり、皆様のようなエンジニアの方々と一緒に仕事をしているときに、リスクに直面してきました。Keysightの高速デジタル・テスト用ソリューション・セットは、業界の専門家との継続的な関係に基づいて、測定機器とボードの専門知識を組み合わせたものです。弊社は最新の経験を提供することにより、問題を予測でき、優れた製品を短期間で作成できるように支援しています。Keysightが、最高のデザインの実現を支援。

デザイン・サイクル全体に対応

このWebサイトでは、重要な(不可欠な)シグナル・インテグリティ解析の分野はもちろん、デザイン・サイクルの4つの段階すべてのソリューションを探索できます。

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Keysight to Exhibit Latest PCI Express® Design, Test Solutions at PCI-SIG® Developers Conference 
Keysight Technologies announces it will exhibit its PCI Express® (PCIe®) solutions at the PCI-SIG Developers Conference 2015, Booth 7, Santa Clara Convention Center, June 23-24.

プレス資料 2016-06-16

 
Asygn & Kalray use Keysight Simulation Tool Suite to Validate PCI Express® Gen3 Serial Links 
Keysight Technologies announces it will exhibit its PCI Express® (PCIe®) solutions at the PCI-SIG Developers Conference 2015, Booth 7, Santa Clara Convention Center, June 23-24.

プレス資料 2015-06-19

 
Keysight Technologies ENAオプションTDRを使用した能動デバイスの効果的なホットTDR測定 
このアプリケーションノートでは、実際の動作条件で能動デバイスのインピーダンスを測定するための効果的な評価手法を説明します。

アプリケーション・ノート 2015-06-09

How to Design for Power Integrity: Finding Power Delivery Noise Problems 
This video provides an understanding of how the voltage regulator module (VRM) interacts with the printed circuit board planes and decoupling capacitors within a power distribution network (PDN). A well designed PDN provides optimum system performance while a poorly matched designed PDN can result in poor system performance. In the extreme case, rogue waves can occur within the PDN generating much higher voltage noise levels than expected, potentially interfering with system performance or resulting in permanent damage. Recommendations for keeping the impedance flat are also provided.

使用法の説明ビデオ 2015-06-05

 
Keysight EEsof EDAユーザ向けメールマガジン -- しみゅレター 
キーサイトEDAソリューションの技術情報やアプリケーション情報を定期的にお知らせするEメールニュースレターです。

ニュースレター 2015-05-28

 
Forward Clocking - Receiver (RX) Jitter Tolerance Test with J-BERT N4903B High-P - Application Note 
This document describes the requirements for forward clocking topology RX Jitter tolerance testing.

アプリケーション・ノート 2015-04-24

PDF PDF 2.22 MB
Keysight's ADS PCIe, USB Compliance Test Benches Solve Simulation-Measurement Correlation Challenge 
Keysight introduces the ADS PCIe and USB Compliance Test Benches, which enable a complete workflow for SerDes engineers, from simulation of a candidate design, through measurement of the finished prototype.

プレス資料 2015-04-06

 
Improving IBIS-AMI Model Accuracy: Model-to-Model and Model-to-Lab Correlation Case Studies - Articl 
This DesignCon 2014 paper presents case studies for model-to-model & model-to-lab correlation methods & compares favorable/unfavorable factors for both methods. 10G, 11.5G and 23G SerDes data are used as examples.

記事 2015-04-02

PDF PDF 3.34 MB
Keysight Technologies EEsof EDAお客様サポート 
Keysight Technologiesのソリューションは、必ずお客様に満足いただけます。適切なソフトウェア、サポート、コンサルティング・ソリューションを提供し、お客様のエンジニアリングの生産性の向上、将来的な成功に貢献します。

ブローシャ 2015-03-26

PDF PDF 791 KB
Analysis of Test Coupon Structures for the Extraction of High Frequency PCB Material Properties - Wh 
Exploration of the addition of Beatty series resonant impedance structures to improve the accuracy of extracting PCB material properties for the purpose of constructing 3D-EM simulations.

アプリケーション・ノート 2015-03-11

PDF PDF 1.73 MB
How to Do Fixture De-embedding to Match Signal Integrity Simulations to Measurements 
This video provides a quick overview of how fixture de-embedding from measurements, or embedding into simulations is a critical step for matching simulations to measurements for physical layer Tx to Rx channels.

使用法の説明ビデオ 2015-03-10

 
Digital Design & Interconnect Standards - Brochure 
Brochure shows Agilent’s high-speed digital solution set , a range of essential tools, measurement and simulation—that will help cut through the challenges of gigabit digital designs.

ブローシャ 2015-03-09

PDF PDF 7.71 MB
Keysight Technologies to Demonstrate Latest EMC Design, Test Tools at EMCSI Symposium 
Keysight announces it will demonstrate and discuss the latest tools and techniques on 1) EMC design and testing, and 2) signal and power integrity at the EMCSI 2015 Symposium, Santa Clara Convention Center, Booth 618, March 17-19.

プレス資料 2015-03-09

 
N4916B De-emphasis Signal Converter - Data Sheet 
The N4916B de-emphasis signal converter enables R&D and test engineers to accurately characterize gigabit serial ports and channels. The clock doubler option is needed to analyze half-rate clock devices.

データシート 2015-03-05

PDF PDF 2.96 MB
PCI Express® Design and Test from Electrical to Protocol - Brochure 
Thoroughly characterize and validate PCI Express designs with Keysight's PCI Express design and test solutions from electrical to protocol.

ブローシャ 2015-02-03

PDF PDF 3.75 MB
In-Circuit Test Suite - Brochure 
Latest board and functional test solutions to help electronics manufacturers achieve better product quality withmore comprehensive test coverage.

ブローシャ 2015-02-01

PDF PDF 10.42 MB
Keysight PS-X10-100 高速デジタル・コンプライアンス試験全自動測定システム 
評価時、測定器に常時張り付いてませんか? 環境設定から測定まで、1ボタンでもっと効率的に!

ブローシャ 2015-01-19

PDF PDF 668 KB
Keysight Technologies Exhibits High-Speed Digital Design and Test Solutions at DesignCon 
Keysight announces that it will exhibit its high-speed digital solutions at DesignCon 2015, Booth 725, Santa Clara Convention Center, Jan. 28-29.

プレス資料 2015-01-12

 
Sパラメータ・モデルを使用したFPGAのパワー・インテグリティ・シミュレーション 
Sパラメータ・モデルを使用したFPGAのパワー・インテグリティ・シミュレーション

アプリケーション・ノート 2014-12-12

Keysight Donates $120 Mil. Gift of Software, Support and Training to Georgia Institute of Technology 
Keysight announces the largest in-kind software donation in its longstanding relationship with the Georgia Institute of Technology.

プレス資料 2014-12-10

 
Keysight Receives Global Frost & Sullivan Award for Market Leadership in Instrumentation Software 
Keysight Technologies announces that Frost & Sullivan has recognized Keysight with the 2014 Global Frost & Sullivan Award for Market Leadership in Instrumentation Software for excellence in capturing the highest market revenue within its industry. The award is based on Frost & Sullivan's recent analysis of the instrumentation software market.

プレス資料 2014-12-08

 
システム上で発生するさまざまなイベントを観測するロジック・アナライザの使い方 
システム上で発生するさまざまなイベントを観測するロジック・アナライザの使い方

アプリケーション・ノート 2014-12-08

PDF PDF 1.53 MB
メガ帯/ギガ帯アナログ信号を克服するオシロスコープ活用術 
メガ帯/ギガ帯アナログ信号を克服するオシロスコープ活用術

アプリケーション・ノート 2014-12-08

PDF PDF 1.42 MB
高速シリアル通信におけるジッタの基礎と測定手法の概要 
このアプリケーション・ノートでは高速シリアル伝送の物理層で定義されているジッタを取り上げてご説明します。

アプリケーション・ノート 2014-12-08

PDF PDF 1.19 MB
DDR-SDRAM搭載PCI Express対応画像入出力ボードのデバッグに見る計測器を組み合わせて効率を上げるデバッグ手法 
DDR-SDRAM搭載PCI Express対応画像入出力ボードのデバッグに見る計測器を組み合わせて効率を上げるデバッグ手法

アプリケーション・ノート 2014-12-08

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