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Keysight Technologies RF PA/FEM特性評価/テストのリファレンス・ソリューション 
RFパワーアンプの特性評価/テストのリファレンス・ソリューションは、高いスループット、測定品質、性能により、携帯電話などの次世代パワーアンプ/フロントエンド・モジュールのデザイン評価/製造テストに対応しています。

ブローシャ 2014-10-03

PDF PDF 1.90 MB
M9393A PXIe Performance Vector Signal Analyzer - Data Sheet 
This document provides the technical specifications and characteristics for the M9393A PXIe performance vector signal analyzer.

データシート 2014-09-17

PDF PDF 2.46 MB
RF PA/FEM Characterization and Test, Reference Solution – Brochure 
This brochure describes the hardware, software and services components of the RF PA/FEM characterization & test, Reference Solution

ブローシャ 2014-09-15

PDF PDF 2.48 MB
M9393A PXIe Performance Vector Signal Analyzer - Configuration Guide 
This document provides the technical specifications and characteristics for the M9393A PXIe performance vector signal analyzer.

構成ガイド 2014-08-04

PDF PDF 3.04 MB
Modifying DDR Libraries for Silicon Nail Test Generation on the Keysight x1149 Boundary Scan Analyzer 
This application note describes how to modify DDR libraries to generate silicon nails tests on the Keysight x1149 Boundary Scan Analyzer.

アプリケーション・ノート 2014-08-03

PDF PDF 1.57 MB
オフライン対インライン:自動インラインICTへの移行 
i1000D SFP ICTシステムを導入した完全自動インライン・インサーキット・テスト・ストラテジーによる低コスト実現と利点

アプリケーション・ノート 2014-07-31

i1000D SFPインサーキット・テスト・システムによる自動車ヒューズ・ボックスのテスト 
i1000D SFPインサーキット・テスト・システムによる自動車ヒューズ・ボックスのテスト

アプリケーション・ノート 2014-07-31

RF Power Amplifier Test Reference - Solution Brochure  
This brochure describes the Keysight RF Power Amplifier Test Reference Solution -a combination of hardware, software and measurement expertise, providing the essential components of a PA test system.

ブローシャ 2014-05-29

PDF PDF 1.53 MB
PXI Functional Test - TTCI 
PXI Functional Test Solution from TTCI and Keysight.

ソリューション概要 2014-05-14

 
Functional Test - TTCI 
Functional Test Solutions from TTCI and Keysight.

ソリューション概要 2014-05-14

 
Test Instrument Emulator - WinSoft 
Test Instrument Emulation Solution from WinSoft and Keysight.

ソリューション概要 2014-05-14

 
Burn-In Test - LXinstruments 
Burn-in Testing Solutions from LXinstruments and Keysight.

ソリューション概要 2014-04-30

 
Automotive Radar Test - Konrad 
Automotive Radar Test Solution from Konrad and Keysight.

ソリューション概要 2014-04-30

 
Open Test Platform - LXinstruments 
LXI Functional Test Solutions from LXinstruments and Keysight.

ソリューション概要 2014-04-30

 
Power Supply Test – FineTest 
Power Supply Test Solutions from FineTest and Keysight

ソリューション概要 2014-04-29

 
Modular Functional Test – Circuit Check 
Modular Functional Test Solutions from Circuit Check and Keysight

ソリューション概要 2014-04-16

 
M9072A cdma2000/cdmaOne X-Series Measurement Application for PXIe Vector Signal Anlayzer 
This document provides technical and other information related to the cdma2000/cdmaOne X-Series measurement application for modular instruments.

技術概要 2014-04-07

PDF PDF 4.09 MB
M9381A & M9391A PXIe Vector Signal Generator - Configuration Guide 
This document provides information for configuring solutions for RF test based on the M9391A PXIe VSA and M9381A PXIe VSG.

構成ガイド 2014-04-03

PDF PDF 1.25 MB
Testplan Development on CVI Labwindows with TS-5400 PXI Series - Application Note 
This application note provides set-up guidelines to start developing your testplan on CVI Labwindows using the Keysight U8972A TS-5400 PXI Series functional test system.

アプリケーション・ノート 2014-03-25

PDF PDF 5.09 MB
M9380A PXIe CW Source - Configuration Guide 
This configuration guide provides instructions to help you configure the M9380A PXIe CW Source and expand the system to meet your requirements. Product upgrades, related products and physical connection schematics are also featured.

構成ガイド 2014-03-20

PDF PDF 3.23 MB
Keysight M9393A PXIe高性能 ベクトル・シグナル・アナライザ 
M9393Aは、これまでのモジュール計測器にはないマイクロ波性能を備え、厳しいシステム要件にも対応しています。

ブローシャ 2014-03-04

PDF PDF 287 KB
Problem with Subtype Learning When Used with the Connector Algorithm in R7.0 
5DX Technical Paper - Problem with Subtype Learning When Used with the Connector Algorithm in R7.0

アプリケーション・ノート 2013-10-29

PDF PDF 16 KB
The World’s Highest Pin Count In-Circuit Test Solutions – Solution Sources Programming 
The World’s Highest Pin Count In-Circuit Test Solutions from Solution Sources and Keysight

ソリューション概要 2013-09-18

 
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2 
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2

アプリケーション・ノート 2008-10-15

革新的な電源、ラック・スペースを節約 
これまで、多くの中パワー・レンジ(500 W~2 kW)のプログラマブル・システムDC電源が、高さ2U(2-EIAラック・ユニット)および3Uのフル・ラック・サイズのシャーシにパッケージ化されてきました。

アプリケーション・ノート 2008-06-04

 

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