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Ensuring Medical Alert Pendants are Accurate and Reliable with Modular Functional Test 
This application note shows how the 34980A multi-function switch/measure unit is being used to test medical alert devices.

ソリューション概要 2015-05-14

PDF PDF 569 KB
Testing Automotive Electronic Parking Brake Controls with the TS-8989 - Application Note 
This application note discusses the configuration of a typical Keysight TS-8989 PXI Functional Test System for testing automotive electronic parking brake controls.

アプリケーション・ノート 2015-05-11

PDF PDF 772 KB
Shopfloor Operation of the Keysight i1000 In-Circuit Test Software - Application Note 
This application note helps developers of the shopfloor client to fully understand the format and behavior of the i1000 software files to enable communication between the i1000 and the client.

アプリケーション・ノート 2015-04-16

PDF PDF 1.24 MB
M9381A PXIe Vector Signal Generator & M9391A PXIe Vector Signal Analyzer - Configuration Guide 
This document provides information for configuring solutions for RF test based on the M9391A PXIe VSA and M9381A PXIe VSG.

構成ガイド 2015-03-31

PDF PDF 5.25 MB
Automated X-Ray Inspection System Keysight Technologies - Technical Overview 
This is a technical datasheet. Keysight has developed a sealed ultra-high vacumn X-ray tube that provides stable output throughout a significantly long life.

アプリケーション・ノート 2015-03-24

PDF PDF 644 KB
The World’s Highest Pin Count In-Circuit Test Solutions - Brochure 
Keysight's new i3070 and 3070 in-circuit test (ICT) high node count test solution is the world’s highest pin count ICT system, bringing an unprecedented level of performance and portability to users.

ブローシャ 2015-02-12

PDF PDF 212 KB
i3070 High Node Count Test Solution - Technical Overview 
Keysight's high node count test solution allows any Keysight 3070/i3070 Series 3 or Series 5 four-module test system to be easily upgraded into an ultra-high pin count test system

技術概要 2015-02-12

PDF PDF 645 KB
M9068A Phase Noise X-Series Measurement Application for PXI Vector Signal Analyzers 
This document provides technical and other information related to the Phase Noise X-Series measurement application for modular instruments.

技術概要 2015-02-10

PDF PDF 2.39 MB
In-Circuit Test Suite - Brochure 
Latest board and functional test solutions to help electronics manufacturers achieve better product quality withmore comprehensive test coverage.

ブローシャ 2015-02-01

PDF PDF 10.42 MB
Detecting Tailgating Boards on the i3070 Inline In-Circuit Tester - Application Note 
Tailgating sensor improvements on the Keysight i3070 Series 5i inline in-circuit tester help to further minimize damages due to operator and upstream loading errors.

アプリケーション・ノート 2015-01-05

PDF PDF 437 KB
Keysight Technologies M9393A PXIe高性能ベクトル・シグナル・アナライザ 
M9393Aは、キーサイトのマイクロ波測定 の専門知識をモジュール型計測器として実現したものです

データシート 2014-11-12

i3070 ICT Fixture Electronic Clock Measurement Modules - Technical Overview 
The Keysight clock measurement modules (CMM)for the i3070 in-circuit test application comes with three types of clock signal measurement to meet your different circuit topologies.

技術概要 2014-11-11

PDF PDF 213 KB
TS-8989 PXI Functional Test System - System Integration Guide - Application Note 
In today’s manufacturing environment, floor space is an increasingly invaluable variable in the cost of test equation.

アプリケーション・ノート 2014-11-06

PDF PDF 611 KB
Keysight Technologies RF PA/FEM特性評価/テストのリファレンス・ソリューション 
RFパワーアンプの特性評価/テストのリファレンス・ソリューションは、高いスループット、測定品質、性能により、携帯電話などの次世代パワーアンプ/フロントエンド・モジュールのデザイン評価/製造テストに対応しています。

ブローシャ 2014-10-03

PDF PDF 1.90 MB
M9393A PXIe Performance Vector Signal Analyzer - Configuration Guide 
This document provides the technical specifications and characteristics for the M9393A PXIe performance vector signal analyzer.

構成ガイド 2014-08-04

PDF PDF 3.04 MB
Modifying DDR Libraries for Silicon Nail Test Generation on the Keysight x1149 Boundary Scan Analyzer 
This application note describes how to modify DDR libraries to generate silicon nails tests on the Keysight x1149 Boundary Scan Analyzer.

アプリケーション・ノート 2014-08-03

PDF PDF 1.57 MB
オフライン対インライン:自動インラインICTへの移行 
i1000D SFP ICTシステムを導入した完全自動インライン・インサーキット・テスト・ストラテジーによる低コスト実現と利点

アプリケーション・ノート 2014-07-31

i1000D SFPインサーキット・テスト・システムによる自動車ヒューズ・ボックスのテスト 
i1000D SFPインサーキット・テスト・システムによる自動車ヒューズ・ボックスのテスト

アプリケーション・ノート 2014-07-31

PXI Functional Test - TTCI 
PXI Functional Test Solution from TTCI and Keysight.

ソリューション概要 2014-05-14

 
Functional Test - TTCI 
Functional Test Solutions from TTCI and Keysight.

ソリューション概要 2014-05-14

 
Test Instrument Emulator - WinSoft 
Test Instrument Emulation Solution from WinSoft and Keysight.

ソリューション概要 2014-05-14

 
Burn-In Test - LXinstruments 
Burn-in Testing Solutions from LXinstruments and Keysight.

ソリューション概要 2014-04-30

 
Open Test Platform - LXinstruments 
LXI Functional Test Solutions from LXinstruments and Keysight.

ソリューション概要 2014-04-30

 
Power Supply Test – FineTest 
Power Supply Test Solutions from FineTest and Keysight

ソリューション概要 2014-04-29

 
Modular Functional Test – Circuit Check 
Modular Functional Test Solutions from Circuit Check and Keysight

ソリューション概要 2014-04-16

 

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