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デジタル・デザインとインターコネクト規格

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デジタル規格では、世代交代のたびに新たなリスクが生じます。弊社での製品開発や、皆様のようなエンジニアの方々と一緒に仕事をしているときに、リスクに直面してきました。キーサイトの高速デジタルテスト用ソリューションセットは、業界の専門家との継続的な関係に基づいて、測定機器とボードの専門知識を組み合わせたものです。弊社は最新の経験を提供することにより、問題を予測でき、優れた製品を短期間で作成できるように支援しています。

キーサイトが最高のデザインの実現を支援

これらの有用なツール、デモ、ビデオなどを使用して、高速デザインのシグナルインテグリティを達成できます。キーサイトのデジタルデザイン/インターコネクトソリューションの詳細をご確認ください。

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Keysight to Exhibit Latest PCI Express® Design, Test Solutions at PCI-SIG® Developers Conference 
Keysight Technologies announces it will exhibit its PCI Express® (PCIe®) solutions at the PCI-SIG Developers Conference 2015, Booth 7, Santa Clara Convention Center, June 23-24.

プレス資料 2016-06-16

 
Keysight Technologies DDRメモリのより良いデザイン/テスト 
DDRメモリのデザインの徹底的な評価と検証

ブローシャ 2015-06-30

PDF PDF 2.12 MB
DDR4 Protocol Analysis - FuturePlus 
DDR4 Protocol Analysis from FuturePlus and Keysight.

ソリューション概要 2015-06-30

 
DisplayPort 1.2 Link Layer Testing - FuturePlus 
DisplayPort 1.2 Link Layer Testing Solution from FuturePlus and Keysight.

ソリューション概要 2015-06-30

 
Asygn & Kalray use Keysight Simulation Tool Suite to Validate PCI Express® Gen3 Serial Links 
Keysight Technologies announces it will exhibit its PCI Express® (PCIe®) solutions at the PCI-SIG Developers Conference 2015, Booth 7, Santa Clara Convention Center, June 23-24.

プレス資料 2015-06-19

 
Keysight Technologies ENAオプションTDRを使用した能動デバイスの効果的なホットTDR測定 
このアプリケーションノートでは、実際の動作条件で能動デバイスのインピーダンスを測定するための効果的な評価手法を説明します。

アプリケーション・ノート 2015-06-09

One Size Does NOT Fit All - Application Note 
This application note discusses the topic of “One Size Does NOT Fit All” and how test system configurations benefit from a choice of hardware form factors and software products.

アプリケーション・ノート 2015-06-08

PDF PDF 3.34 MB
How to Design for Power Integrity: Finding Power Delivery Noise Problems 
This video provides an understanding of how the voltage regulator module (VRM) interacts with the printed circuit board planes and decoupling capacitors within a power distribution network (PDN). A well designed PDN provides optimum system performance while a poorly matched designed PDN can result in poor system performance. In the extreme case, rogue waves can occur within the PDN generating much higher voltage noise levels than expected, potentially interfering with system performance or resulting in permanent damage. Recommendations for keeping the impedance flat are also provided.

使用法の説明ビデオ 2015-06-05

 
Keysight Method of Implementation (MOI) for PCIe 3.0 Tx/Rx Impedance and Return Loss Test 
Keysight Method of Implementation (MOI) for PCIe 3.0 Tx/Rx Impedance and Return Loss Test Using Keysight E5071C ENA Network Analyzer Option TDR

アプリケーション・ノート 2015-06-05

PDF PDF 1.43 MB
Test Solutions for Greater Insight into Wireless Connectivity - Brochure 
This WiCON brochure focuses on test solutions for WiMAXT, RFID, NFC, WLAN, Bluetooth®, UWB, ZigBee technologies.

ブローシャ 2015-06-02

PDF PDF 5.68 MB
Keysight EEsof EDAユーザ向けメールマガジン -- しみゅレター 
キーサイトEDAソリューションの技術情報やアプリケーション情報を定期的にお知らせするEメールニュースレターです。

ニュースレター 2015-05-28

 
Forward Clocking - Receiver (RX) Jitter Tolerance Test with J-BERT N4903B High-P - Application Note 
This document describes the requirements for forward clocking topology RX Jitter tolerance testing.

アプリケーション・ノート 2015-04-24

PDF PDF 2.22 MB
Ethernet 100BASE-TX Cable Test - Test Solution Overview Using the ENA Option TDR 
This describes how to make measurements of 100BASE-TX Ethernet Cable Tests by using the Keysight E5071C ENA Option TDR.

技術概要 2015-04-08

PDF PDF 1.90 MB
Keysight Method of Implementation (MOI) for 100BASE-TX Ethernet Cable Tests 
Keysight Method of Implementation (MOI) for 100BASE-TX Cable Tests Using Keysight E5071C ENA Option TDR

アプリケーション・ノート 2015-04-07

PDF PDF 2.12 MB
Keysight's ADS PCIe, USB Compliance Test Benches Solve Simulation-Measurement Correlation Challenge 
Keysight introduces the ADS PCIe and USB Compliance Test Benches, which enable a complete workflow for SerDes engineers, from simulation of a candidate design, through measurement of the finished prototype.

プレス資料 2015-04-06

 
Improving IBIS-AMI Model Accuracy: Model-to-Model and Model-to-Lab Correlation Case Studies - Articl 
This DesignCon 2014 paper presents case studies for model-to-model & model-to-lab correlation methods & compares favorable/unfavorable factors for both methods. 10G, 11.5G and 23G SerDes data are used as examples.

記事 2015-04-02

PDF PDF 3.34 MB
Keysight Technologies EEsof EDAお客様サポート 
Keysight Technologiesのソリューションは、必ずお客様に満足いただけます。適切なソフトウェア、サポート、コンサルティング・ソリューションを提供し、お客様のエンジニアリングの生産性の向上、将来的な成功に貢献します。

ブローシャ 2015-03-26

PDF PDF 791 KB
PCI Express Receiver Testing Responds To New Challenges - Article 
PCI Express Receiver Testing Responds To New Challenges

記事 2015-03-24

 
Keysight Technologies’ Method of Implementation Guide Supports USB 3.1, USB Type-C Connectors, Cable 
eysight Technologies, Inc. (NYSE: KEYS) today announced the availability of its Method of Implementation (MOI) guide for USB 3.1 and USB Type-C Connectors and Cable Assemblies Compliance Testing using the Keysight ENA Series network analyzer's enhanced time domain analysis option (E5071C-TDR).

プレス資料 2015-03-16

 
HDMI 2.0 Source/Sink Impedance Compliance Test - Test Solution Overview Using the ENA Option TDR 
This describes how to make measurements of High-Definition Multimedia Interface (HDMI) 2.0 Source/Sink Impedance Compliance Tests by using the Keysight E5071C ENA Option TDR.

技術概要 2015-03-12

PDF PDF 2.14 MB
N8827A/B PAM-4 Analysis Software for Infiniium Oscilloscopes - Data Sheet 
Keysight's N8827A/B PAM-4 analysis software for select Infiniium oscilloscopes helps you quickly and accurately analyze electrical Pulse Amplitude Modulation (PAM) signals.

データシート 2015-03-12

Analysis of Test Coupon Structures for the Extraction of High Frequency PCB Material Properties - Wh 
Exploration of the addition of Beatty series resonant impedance structures to improve the accuracy of extracting PCB material properties for the purpose of constructing 3D-EM simulations.

アプリケーション・ノート 2015-03-11

PDF PDF 1.73 MB
How to Do Fixture De-embedding to Match Signal Integrity Simulations to Measurements 
This video provides a quick overview of how fixture de-embedding from measurements, or embedding into simulations is a critical step for matching simulations to measurements for physical layer Tx to Rx channels.

使用法の説明ビデオ 2015-03-10

 
Digital Design & Interconnect Standards - Brochure 
Brochure shows Agilent’s high-speed digital solution set , a range of essential tools, measurement and simulation—that will help cut through the challenges of gigabit digital designs.

ブローシャ 2015-03-09

PDF PDF 7.71 MB
Keysight Technologies to Demonstrate Latest EMC Design, Test Tools at EMCSI Symposium 
Keysight announces it will demonstrate and discuss the latest tools and techniques on 1) EMC design and testing, and 2) signal and power integrity at the EMCSI 2015 Symposium, Santa Clara Convention Center, Booth 618, March 17-19.

プレス資料 2015-03-09

 

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