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光工学/光通信

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81602A Extra High Power Tunable Laser - Data Sheet 
The 81602A Tunable Laser Source has been designed to explore new application areas in photonic device testing: it sports output power levels beyond 50 mW (+17 dBm) and covers the O-band.

データシート 2016-06-28

8160xx Family of Tunable Laser Sources - Data Sheet 
The Keysight 8160xx Family of Tunable Laser Sources offers the full wavelength range from 1260 nm to 1650 nm with the highest tuning and sweeping accuracy and power stability

データシート 2016-06-15

キーサイト・テクノロジー グループ 会社案内 
キーサイト・テクノロジーの前身であるヒューレット・パッカード(HP)の共同創業者の1人ビル・ヒューレット が最初に語った言葉です。 それから75年過ぎた今もなお、世界をもっと安全で、より良い場所にしたいという同じ情熱が、私たちキーサ イトを動かしています。

ブローシャ 2016-04-25

PDF PDF 7.79 MB
81602A Extra High Power Tunable Laser - video 
The Keysight 81602A is an extra high power tunable laser operating from 1250 nm to 1370 nm. With over +17 dBm peak power and +16 dBm in the 100GBASE-LR4 range, it improves tolerance for optical power budgets in test setups.

デモ 2016-04-20

 
Keysight Premium Used - Flyer 
Keysight Premium Used offers you a vast selection of high-quality test equipment, re-manufactured to like-new specifications and appearance.

ブローシャ 2016-04-18

PDF PDF 283 KB
Keysight Trade-In - Flyer 
Keysight Premium Used instruments undergo a comprehensive final inspection as this flyer explains.

ブローシャ 2016-04-18

PDF PDF 330 KB
Technology Refresh Services for FieldFox Handheld Analyzers - Flyer 
2-page flyer that explains and links to FieldFox handheld analyzers Technology Refresh Services including, trade-in, upgrades, extended service, premium used and consulting

プロモーション資料 2016-04-12

PDF PDF 1.43 MB
Technology Refresh Services for X-Series Signal Analyzers - Flyer 
2-page flyer that explains and links to X-Series signal analyzer Technology Refresh Services including, trade-in, upgrades, extended service, premium used and consulting.

プロモーション資料 2016-04-12

PDF PDF 931 KB
Technology Refresh Services for V-Series, Z-Series Oscilloscopes - Flyer 
2-page flyer that explains and links to V-Series,Z-Series Oscilloscopes Technology Refresh Services including, trade-in, upgrades, extended service, premium used and consulting.

プロモーション資料 2016-04-12

PDF PDF 1.25 MB
Introduces Tunable Laser Sources for Testing Data Center Devices, Integrated Components 
+17dBm Enables Verification of Silicon Photonics Designs, New O-Band Option Accelerates High-Volume Testing

プレス資料 2016-03-23

 
Repair Service - Product Fact Sheet 
Send your equipment to us and we'll quickly and expertly restore it to full functionality.

ブローシャ 2016-03-10

PDF PDF 987 KB
Using a Wide-Band Tunable Laser for Optical Filter Measurements – Article 
This article was published in NASA Tech Briefs hard copy and online, highlighting how to use a wide-band tunable laser for optical filter measurements.

記事 2016-01-18

PDF PDF 1.82 MB
Forward Clocking - Receiver (RX) Jitter Tolerance Test with J-BERT N4903B High-P - Application Note 
This document describes the requirements for forward clocking topology RX Jitter tolerance testing.

アプリケーション・ノート 2015-04-24

PDF PDF 2.22 MB
第5高調波の捕捉:サンプリング・オシロスコープとリアルタイム・オシロスコープの比較 
オシロスコープが、理論的には第5 高調波を捕捉できる十分な帯域幅を備えていたとしても、第5 高調波成分をまったく捕捉できない可能性もあります。

アプリケーション・ノート 2014-09-16

On-Wafer Testing of Opto-Electronic Components Using LCA's 
This document describes the principles of on-wafer measurements on opto-electronic components

アプリケーション・ノート 2014-07-31

Jitter Analysis: The Dual-Dirac Model, RJ/DJ, and Q-Scale - Application Note 
This paper provides a complete description of the dual-Dirac model, how it is used in technology standards and a summary of how it is applied on different types of test equipment.

記事 2014-06-14

PDF PDF 515 KB
I/Q光変調に関する光チュートリアルシリーズ – 記事 
キーサイトは、コヒーレント信号検出の問題例を扱ったLightwave誌に掲載された、I/Q光変調に関するチュートリアルシリーズを提供しています。

記事 2014-05-22

 
Spectrum Management for Efficient Bandwidth Allocation - X-COM 
Spectrum Management Solutions for Efficient Bandwidth Allocation from X-COM and Keysight

ソリューション概要 2014-05-14

 
Polarization Tutorial CD - Ordering Form 
Polarization Tutorial CD - Ordering and Information Request Form.

デモ 2014-03-31

 
What is the difference between an equivalent time and a real-time oscilloscope? - Application Note  
This document will discuss how each type of oscilloscope samples the incoming waveform and explain the trigger requirements.

アプリケーション・ノート 2013-11-18

Measuring Jitter in Digital Systems (AN 1448-1) - Application Brief 
This application note is for R&D designers and engineers working on high-speed digital designs. It addresses jitter measurements in digital circuits, how the different measurement techniques are best applied, and how these decisions may change as the data rates increase.

アプリケーション・ノート 2013-09-16

PDF PDF 1.78 MB
光測定アプリケーション&ソリューション 
光通信用キー・デバイスとそのテスト・アプリケーションに関する最新情報をまとめたサイトです。

アプリケーション・ノート 2013-02-28

 
RIN測定システム 40GHz : PS-X10-100 
キーサイトの提供するRIN測定システムは、高感度・低雑音の光レシーバ、 最新のXシリーズ・シグナル・アナライザを採用し、独自の校正技術を適用したソフトウェアにより、従来の2倍の40GHzまでの広帯域におけるRINの測定を、高速・高確度かつ高い再現性と伴に実施することができます。

アプリケーション・ノート 2013-02-26

 
Keysight ソリューション・サービス一覧 - 光デバイス 
Keysight ソリューション・サービス一覧 - 光デバイス

カタログ 2013-01-21

 
Transient Optical Power Measurements with the N7744A and N7745A 
This note shows how to measure transient and time-dependent optical signals, both of which are related to the fast sample rate and data throughput of the N7744A and N7745A multiport power meters.

アプリケーション・ノート 2010-11-12

PDF PDF 1.23 MB

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