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スペクトラム解析の基礎 
本アプリケーション・ノートでは、掃引同調スーパーヘテロダイン・スペクトラム・アナライザの基礎と、最新のスペクトラム・アナライザの機能について説明しています。

アプリケーション・ノート 2014-06-06

ネットワーク・アナライザのアーキテクチャ AN1287-2 
今日では、ネットワーク・アナライザは高周波コンポーネントやデバイスの性能を測定するための最も重要なツールの一つです。最近のベクトル・ネットワーク・アナライザには、コンポーネントの振幅、位相、および群...

アプリケーション・ノート 2014-01-22

ベクトル・ネットワーク解析の基礎 AN1287-1 
通信システムの測定ネットワーク解析とは、デザインや製造の過程で、より複雑なシステムの一部であるコンポーネントや回路の電気的動作を測定することです。これらのシステムでなんらかの情報を持つ信号を伝送する...

アプリケーション・ノート 2013-12-11

8 Hints for Making Better Measurements Using RF Signal Generators Application Note 
This application provides 8 hints for improving the accuracy of your measurements using RF signal generators.

アプリケーション・ノート 2012-06-27

PDF PDF 1.35 MB
Fundamentals of RF and Microwave Power Measurements (Part 3) (AN 1449-3) 
Power Measurement Uncertainty per International Guides AN 1449-3, literature number 5988-9215EN

アプリケーション・ノート 2011-04-05

Bluetooth RF測定の基礎 
Bこのアプリケーション・ノートでは、Bluetooth RF 設計をテストし検証するための送信機および受信機の測定について説明します。

アプリケーション・ノート 2010-10-18

RF およびマイクロ波の雑音指数測定の基礎 AN57-1 
現在の受信システムは、しばしば微弱な信号を処理しなければなりませんが、システムのコンポーネントによって追加される雑音のために微弱な信号は覆い隠されがちとなります。感度、ビット・エラー・レート(BER)、...

アプリケーション・ノート 2010-08-05

Keysight PNA マイクロ波ネットワーク・アナライザ 
本アプリケーション・ノートでは、バンド別ミリ波ソリューションのシステム構成、システム操作、システム校正、代表的な測定例について詳しく説明しています。

アプリケーション・ノート 2010-01-21

Keysight PNA-X ネットワーク・アナライザ 10 MHz ~ 26.5 GHz 
このアプリケーション・ノートでは、Keysight PNA-X マイクロ波ネットワーク・アナライザによる2 トーン相互変調歪み測定の確度に関する注意事項を説明しています。

アプリケーション・ノート 2009-10-29

Diagnostic Testing and the Medalist 5DX Automated X-ray Inspection System 
Users of the Medalist 5DX automated x-ray inspection system can benefit from running diagnostic tests on a regular basis. This application note provides some guidelines.

アプリケーション・ノート 2009-01-14

PDF PDF 188 KB
Medalist i3070 Test Throughput Optimization 
This application note explores some factors which cause test time to increase on the Medalist i3070 In-Circuit Test system, and methods which users can employ to reduce the test time and increase throughput on the Medalist i3070 ICT system.

アプリケーション・ノート 2008-11-24

IEEE 1149.6 Standard Boundary Scan Testing on Keysight Medalist i3070 ICT Systems 
This paper introduces the latest advancements in Boundary Scan test capabilities on the Keysight Medalist i3070 In-Circuit Test platform that supports the testing of IEEE 1149.6-compliant devices.

アプリケーション・ノート 2008-11-24

PDF PDF 297 KB
Boosting PLL Design Efficiency From free-running VCO characterizations to closed-loop PLL evaluation 
This application note describes introduces practical solutions for VCO/PLL performance evaluation and gives actual examples of parameter measurements using the E5052B.

アプリケーション・ノート 2008-11-21

Exposed Pad Algorithm for the Medalist x6000 AXI System 
This application note describes how to use the exposed pad algorithm in the Medalist x6000 AXI software to test all varieties of QFN and FET package types for defects such as Open and Voiding.

アプリケーション・ノート 2008-10-21

PDF PDF 1.83 MB
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2 
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2

アプリケーション・ノート 2008-10-15

Medalist 5DX自動X線システムでの製造不良アナライザの検出パラメータの調整 
製造不良アナライザは、ボードのZ高さをわずかに変更し、疑わしい接合を再検査することによって動作します。

アプリケーション・ノート 2008-09-30

 
First pass Yield (FPY) and Alarm Triggers on the Keysight Medalist i3070 In-circuit Test System 
This application note will explain some customizations and how to create alarm triggers.

アプリケーション・ノート 2008-09-26

PDF PDF 131 KB
Setting Up HotKeys for AXI products on the Keysight Medalist Repair Tool 
Users of the Keysight Medalist Repair Tool, also known as the Keysight Repair Tool (ART), can setup hot keys to increase the efficiency of image viewing in RT4.0 for their X-ray inspection products.

アプリケーション・ノート 2008-09-26

PDF PDF 629 KB
Build Operator Menu: Multiple Menu Configuration Control for 5DX Auto User Interface 
The "Build Operator Menu" software replaces and extends the functionality found in the BLDOPMNU DOS command. This application note provides useful user information about this menu.

アプリケーション・ノート 2008-09-04

PDF PDF 849 KB
Fundamentals of RF and Microwave Power Measurements (Part 4) (AN 1449-4) 
An Overview of Keysight Instrumentation for RF/Microwave Power Measurements AN 1449-4, literature number 5988-9216EN

アプリケーション・ノート 2008-09-01

Medalist 5DX自動X線検査システムの表面マップ・パラメータの調整 
Medalist 5DX自動X線検査システムの表面マップ・パラメータの調整

アプリケーション・ノート 2008-08-27

 
Quad Flat No Lead (QFN) Best Practices 
The purpose of this application note and best practices guide is to describer the QFN-type component and provide testing methods to ensure robust testing on the Medalist 5DX Automated X-ray Inspection (AXI) System.

アプリケーション・ノート 2008-08-26

PDF PDF 492 KB
Merging Windowed Deposits in CamCad on Keysight’s Automated Optical Inspection (AOI) Systems 
In many stencil designs, windowed deposits are used to apply paste to a large pad. This document provides some tips for dealing with this.

アプリケーション・ノート 2008-07-23

PDF PDF 352 KB
Best of 8 Hints for Making Better Oscilloscopes Measurements  
Keysight engineers sharing ideas of how to use the equipment they design

アプリケーション・ノート 2008-03-17

PDF PDF 320 KB
PNA-X アプリケーション:電力付加効率(PAE) 
電力付加効率(PAE)は、パワーアンプのパワー変換効率の指標です。理想的には、アンプへ供給されるすべてのパワーが出力パワーに変換されることです。しかし、実際にはそうならないので、PAE はパワーアンプの重要な性能パラメータです。

アプリケーション・ノート 2008-02-18

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