お問い合わせ窓口

デバイス・モデリング

Keysightでは、DC、CV、ノイズ、RF測定用のハードウェア/ソフトウェア・デバイス・モデリング・ソリューションを提供しています。

Keysightの測定システムは、KeysightのIC-CAP(Integrated Circuit Characterization and Analysis Program)ソフトウェアを使って、設定、制御、自動化を容易に実行できます。KeysightのIP-CAPは、業界最高のデバイス・モデリング測定/パラメータ抽出ソフトウェアであり、精密なDC、CV、Sパラメータ評価に基づいて、詳細なノンリニア・モデル・パラメータ・セットを抽出するために使用できます。IC-CAPでは、簡単に測定をセットアップし、回路シミュレーションと最適化を実行できます。また、Spectre、HSPICE、Eldo、KeysightのAdvanced Design System(ADS)などの 一般的なシミュレータのリストから回路シミュレータを選択できます。

RF/DCパラメータ測定ソリューション

推奨のIC-CAPデバイス・モデリング構成では、DC、CV、ノイズ、RFデバイス測定を実行できます。これらの構成には、半導体デバイスの正確な評価に必要なバイアス回路、ケーブル、アダプタが付属します。IC-CAPデバイス・モデリング構成は、Cascade Microtech社やSuss社などの主要なオンウェーハ測定用プローブ・ステーションと組み合わせて使用できます。

RF評価のためのSパラメータ測定には、KeysightのPNAネットワーク・アナライザが使用されます。DCおよびCV測定には、KeysightのB1500、4156またはE5720半導体パラメータ・アナライザが使用されます。Keysight 11612T/V-Kxx高周波バイアス回路は、測定システムと被試験デバイスとの間の容易なリモート接続を実現し、測定確度が向上します。詳細については、 デバイス・モデリング用推奨モデリング構成を参照してください。

オプションのインストール/スタートアップ支援

測定ハードウェアの統合、インストール、スタートアップの支援を追加サービスとして提供いたします。Keysight EEsof EDA窓口までお問い合わせください。

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WaferPro Express Software - Brochure 
WaferPro Express software is an efficient and powerful automated measurement test platform for wafer-level characterization.

ブローシャ 2014-08-04

PDF PDF 57 KB
EDA Support Services 
Keysight Support Services for EDA Products offers customers several benefits otherwise not available. This service is designed to help you get the most out of your software purchases.

ブローシャ 2014-08-03

PDF PDF 465 KB
Keysight EEsof EDA Software and Modular Solutions for Universities 
Keysight works in collaboration with universities to provide tools that enable education and research for the engineers of tomorrow. The brochure outlines available programs, software and hardware.

ブローシャ 2014-08-03

PDF PDF 1.44 MB
RF and Microwave Industry-Ready Student Certification Program 
This program confirms a student’s technical knowledge, design expertise, and hands-on measurement proficiency in the use of Keysight EEsof EDA software design tools and Keysight instruments.

ブローシャ 2014-08-03

PDF PDF 576 KB
Advanced Modeling Solutions for Nanoscale 3D FinFETs and High-Frequency/High-Power GaN HEMTs 
Agilent announces several innovations for the 2014 release of its industry-leading suite of device modeling and characterization software tools. The suite is comprised of IC-CAP, MBP, and MQA.

プレス資料 2014-06-18

 
ウェーハ・レベル測定ソリューション ‐ Cascade Microtech 
Cascade MicrotechとKeysightが実現する正確で再現性の高いウェーハ・レベル測定。

ソリューション概要 2014-06-16

 
Agilent Technologies and Cascade Microtech Announce Alliance to Streamline Wafer-Level Measurements 
Agilent Technologies and Cascade Microtech announce a strategic alliance to provide fully configured and validated RF measurement solutions that streamline wafer-level semiconductor measurements while delivering guaranteed configuration, installation and support.

プレス資料 2014-06-03

 
X-Parameter Design Simulation Models - Modelithics 
X-Parameter Design Simulation Models from Modelithics and Keysight.

ソリューション概要 2014-04-30

 
Pulsed Measurement of Active Device IV Characteristics and S-Parameters - Maury Microwave 
Pulsed Measurement of Active Device IV Characteristics and S-Parameters from Maury Microwave and Keysight

ソリューション概要 2014-04-02

 
Pulsed Measurement of IV Characteristics and RF Parameters – Auriga Microwave 
Pulsed Measurement of IV Characteristics and RF Parameters from Auriga Microwave and Keysight

ソリューション概要 2014-04-01

 
Agilent Technologies Announces Next-Generation System for Measuring Flicker Noise 
Agilent introduces the Agilent EEsof EDA E4727A Advanced Low-Frequency Noise Analyzer—a next-generation hardware and software system for measurement and analysis of flicker noise and random telegraph noise (RTN).

プレス資料 2014-03-13

 
Agilent Technologies Simulation and Modeling Software Selected by Nitronex for High-Power GaN Design 
Agilent announces that Nitronex, a GaAs labs company and leading producer of GaN-on-silicon RF power devices, has selected Agilent to provide a complete GaN design flow that spans both device modeling and circuit simulation.

プレス資料 2014-02-11

 
MBP and MQA Adopted by Microchip Technology for PDK Creation, Modification, Validation 
Agilent Technologies announces that Microchip Technology Inc., a leading provider of microcontroller, mixed-signal, analog and Flash-IP solutions, has adopted Agilent EEsof EDA's Model Builder Program and Model Quality Assurance software. Microchip Technology will use the software to create internal fabrication device model libraries or process design kits, modify external foundry libraries, and validate supported devices from internal and external sources.

プレス資料 2013-12-09

 
Keysight EEsof EDA お客様サポート 
Keysight Technologiesのソリューションは、必ずお客様に満足いただけます。適切なソフトウェア、サポート、コンサルティング・ソリューションを提供し、お客様のエンジニアリングの生産性の向上、将来的な成功に貢献します。

ブローシャ 2013-10-29

PDF PDF 1.11 MB
Keysight EEsof EDA Premier Communications Design Software 
The Keysight EEsof EDA catalog provides an excellent overview of all of Keysight's Electronic Design Automation (EDA) tools.

カタログ 2013-10-07

PDF PDF 8.61 MB
Keysight EEsof EDA Product Overview 
Keysight EEsof EDA premier communications design software product overview brochure.

ブローシャ 2013-09-30

PDF PDF 1.68 MB
IC-CAP デバイス・モデリング・ソフトウェア 
IC-CAP(Integrated Circuit Characterization and Analysis Program)はDC/RF半導体デバイスの特性評価/モデリング用の業界標準のソフトウェアで、高速デジタル/アナログ/パワーRFアプリケーション用の、正確でコンパクトなモデルを抽出できます。

技術概要 2013-09-20

Keysight EEsof EDAユーザ向けメールマガジン -- しみゅレター 
アジレントEDAソリューションの技術情報やアプリケーション情報を定期的にお知らせするEメールニュースレターです。

ニュースレター 2013-08-07

 
Agilent's MBP and MQA Software Adopted by Shanghai Consortia for Advanced Device Modeling 
Agilent announces that the Shanghai Integrated Circuit Research and Development Center, a nonprofit research consortia dedicated to advancing the microelectronics industry in China, is using Agilent's Model Builder Program and Model Quality Assurance software for model extraction and verification at 45-nm process nodes.

プレス資料 2013-07-09

 
Agilent Technologies Introduces Industry’s First Solution for Modeling Power Devices 
Agilent announces that IC-CAP has been enhanced to provide full support for the B1505A Power Device Analyzer/Curve Tracer, including the instrument’s new high-power, high-current source monitor unit modules.

プレス資料 2013-06-24

 
Keysight EEsof EDA Customer Support Brochure 
Whether you are a novice or an experienced user, Keysight EEsof EDA’s customer support offerings are designed to help you every step of the way.

ブローシャ 2013-05-28

PDF PDF 681 KB
Agilent Ships Newest SPICE Model Extraction and Qualification Software 
Agilent announces shipment of the latest release of its industry-leading SPICE model extraction tool, Model Builder Program, and SPICE qualification tool, Model Quality Assurance.

プレス資料 2013-03-13

 
Agilent Technologies Launches Recognition Program for EDA Experts 
Agilent launches its Agilent Certified Expert recognition program for EDA experts. Eligible participants include individuals demonstrating a high level of expertise-both theoretical and practical-in applying Agilent EEsof EDA tools for product design and modeling.

プレス資料 2013-03-12

 
Agilent embraces GaN modeling in IC-CAP upgrade 
EETimes Design Article highlights new capabilities in IC-CAP 2013.01.

記事 2013-01-09

 
Agilent Technologies Unveils New IC-CAP Platform for Device Characterization and Modeling 
Agilent announces the latest release of its device modeling software platform, the Integrated Circuit Characterization and Analysis Program (IC-CAP).

プレス資料 2012-12-18

 

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