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邊界掃瞄技術與 JTAG

Boundary Scan

在邊界掃瞄技術上,是德持續帶領您向前邁進
透過此網站,您可了解更多技術方面的訊息與有效的解決方案。

在印刷電路板測試所需要用到的邊界掃瞄技術領域,是德近期連續榮獲7次國際大獎,再次證明是德20年的產業領先地位。自從 IEEE 1149.1標準公布以來,是德的邊界掃瞄解決方案即嚴格遵循此標準,並持續在此技術上投注心力,只因我們十分重視顧客的需要。

請讓我們帶領您展開這個旅程:加入我們、了解更多、分享更多、體驗更多。