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M9155/6/7C and M9155/6/7CH40 DC to 26.5/40 GHz PXI Hybrid Switch Modules - Flyer 
This 2-page flyer provides a brief overview for the Keysight M9155/6/7C PXI and M9155/6/7CH40 DC to 26.5/40 GHz PXI Hybrid Switch Modules.

ブローシャ 2015-05-19

PDF PDF 660 KB
Testing Automotive Electronic Parking Brake Controls with the TS-8989 - Application Note 
This application note discusses the configuration of a typical Keysight TS-8989 PXI Functional Test System for testing automotive electronic parking brake controls.

アプリケーション・ノート 2015-05-11

PDF PDF 772 KB
Dialog Semiconductor adopts IC-CAP, MBP, MQA, and WaferPro Express software 
Keysight announces that Dialog Semiconductor has adopted the Keysight EEsof EDA IC-CAP, MBP, MQA, and WaferPro Express software to perform foundry technology characterization, model validation, model customization and enhancement.

プレス資料 2015-05-11

 
How to Design an RF Power Amplifier: Class J 
This short video will provide an introduction to Class J Power Amplifiers and demonstrate a superior, time saving methodology to design and practically realize a Class J RF power amplifier. First,a theoretical approach will be used to design an ideal circuit from first principles and then circuit design tools will be utilized to synthesize a more realistic circuit topology from the ideal case. The design process will be illustrated using a commercially available GaN MMIC device from Qorvo.

使用法の説明ビデオ 2015-05-07

 
Drive Down the Cost of Test Using the ENA Series of Network Analyzers - Application Note 
In this application note, we discuss the contributions of Keysight Technologies, Inc.’s ENA Series of Vector Network Analyzers (ENA, hereafter) to drive down the cost of test in production lines.

アプリケーション・ノート 2015-05-01

PDF PDF 2.46 MB
Keysight Technologies Unveils WaferPro Express 2015 Platform for Wafer-Level Device Characterization 
Keysight announces WaferPro Express 2015, a measurement software platform for the automated characterization of wafer-level devices and circuit components.

プレス資料 2015-04-28

 
Measuring Dielectric Properties using Keysight's Materials Measurement Solutions - Brochure 
Quick guide for Keysight materials measurement solutions that can characterize the material under test by measuring dielectric properties such as permittivity and permeability.

ブローシャ 2015-04-27

PDF PDF 1.66 MB
Keysight EEsof EDAユーザ向けメールマガジン -- しみゅレター 
キーサイトEDAソリューションの技術情報やアプリケーション情報を定期的にお知らせするEメールニュースレターです。

ニュースレター 2015-04-24

 
電源変動パターン自在管理システム 
電源変動パターンを容易に作成して出力。電源変動試験の事前確認・デバッグの工数を大幅に削減。

ブローシャ 2015-04-23

 
Keysight EEsof EDA "How To Design Power Amplifier" Videos 
A collection of "How to Design Power Amplifier" Videos from Keysight EEsof EDA.

使用法の説明ビデオ 2015-04-22

 
N1125Aバウンダリスキャン・アナライザによるDDR3メモリテスト 
N1125Aバウンダリスキャン・アナライザによるDDR3メモリテスト

カタログ 2015-04-22

 
N1125Aバウンダリスキャン・アナライザ製品紹介 
N1125Aバウンダリスキャン・アナライザ製品紹介

カタログ 2015-04-22

 
実装基板のインサーキット・テスト・ソリューションの紹介 
実装基板のインサーキット・テスト・ソリューションの紹介

カタログ 2015-04-22

 
N1125Aバウンダリスキャン・アナライザによるIntel SVTソリューション 
N1125Aバウンダリスキャン・アナライザによるIntel SVTソリューション

カタログ 2015-04-22

 
フライヤ「実装基板の不良検査、あなたはどのタイプ?」 
フライヤ「実装基板の不良検査、あなたはどのタイプ?」

カタログ 2015-04-22

PDF PDF 632 KB
卓上型ICT i1000D DTS製品紹介 
卓上型ICT i1000D DTS製品紹介

カタログ 2015-04-22

 
アニメーション紹介「バウンダリスキャン・テストの概要」 
アニメーション紹介「バウンダリスキャン・テストの概要」

カタログ 2015-04-22

 
Advanced Low-Frequency Noise Analyzer Overview 
This video will provide a brief overview of Keysight E4727A Advanced Low-Frequency Noise Analyzer (ALFNA), the next-generation system for measurement of 1/f noise and random telegraph noise. It will describe ALFNA’s innovative modular design and its technical advantages. It will also touch on wide-range applications and how they are enabled by ALFNA’s industry-leading technical specifications and rich feature set.

製品紹介ビデオ 2015-04-21

 
Keysight Technologies to Showcase Semiconductor Parametric, Modeling Solutions at IRPS 2015 
Keysight announces it will demonstrate some of its many semiconductor parametric and modeling solutions at the 53rd International Reliability Physics Symposium (IRPS), Hyatt Regency Monterey Resort, Booth 203/205, Monterey, Calif., April 19-23.

プレス資料 2015-04-16

 
Keysight Technologies オシロスコープ測定ツールによる車載用シリアルバスの効果的なデバッグ 
Keysight InfiniiVisionシリーズ オシロスコープでは、キーサイトしか実現で きない以下の独自測定機能により、車載用シリアルバスの物理層を効率よくデバッグ/評価できます。

アプリケーション・ノート 2015-04-10

N1125Aバウンダリスキャン・アナライザによるSSD向け基板テストソリューション 
N1125Aバウンダリスキャン・アナライザによるSSD向け基板テストソリューション

カタログ 2015-04-03

PDF PDF 3.83 KB
Characterization of PCB Insertion Loss with a New Calibration Method - Application Note 
In this application note a new method for characterizing PCB loss by using AFR with 1X Open fixtures is proposed.

アプリケーション・ノート 2015-03-26

PDF PDF 700 KB
Keysight Technologies IC-CAPデバイス・モデリング・ソフトウェア 
半導体デバイス・モデリング用高精度パラメータ抽出

技術概要 2015-03-26

Keysight Technologies EEsof EDAお客様サポート 
Keysight Technologiesのソリューションは、必ずお客様に満足いただけます。適切なソフトウェア、サポート、コンサルティング・ソリューションを提供し、お客様のエンジニアリングの生産性の向上、将来的な成功に貢献します。

ブローシャ 2015-03-26

PDF PDF 791 KB
E5080A ENA Series Network Analyzer - Configuration Guide 
This configuration guide describes standard configurations, options, accessories and peripherals for the E5080A network analyzers.

構成ガイド 2015-03-25

PDF PDF 879 KB

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