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Keysight Technologies to Showcase Semiconductor Parametric, Modeling Solutions at IRPS 2015 
Keysight announces it will demonstrate some of its many semiconductor parametric and modeling solutions at the 53rd International Reliability Physics Symposium (IRPS), Hyatt Regency Monterey Resort, Booth 203/205, Monterey, Calif., April 19-23.

プレス資料 2015-04-16

 
Keysight Technologies オシロスコープ測定ツールによる車載用シリアルバスの効果的なデバッグ 
Keysight InfiniiVisionシリーズ オシロスコープでは、キーサイトしか実現で きない以下の独自測定機能により、車載用シリアルバスの物理層を効率よくデバッグ/評価できます。

アプリケーション・ノート 2015-04-10

Keysight Technologies IC-CAPデバイス・モデリング・ソフトウェア 
半導体デバイス・モデリング用高精度パラメータ抽出

技術概要 2015-03-26

Characterization of PCB Insertion Loss with a New Calibration Method - Application Note 
In this application note a new method for characterizing PCB loss by using AFR with 1X Open fixtures is proposed.

アプリケーション・ノート 2015-03-26

PDF PDF 700 KB
Keysight Technologies EEsof EDAお客様サポート 
Keysight Technologiesのソリューションは、必ずお客様に満足いただけます。適切なソフトウェア、サポート、コンサルティング・ソリューションを提供し、お客様のエンジニアリングの生産性の向上、将来的な成功に貢献します。

ブローシャ 2015-03-26

PDF PDF 791 KB
E5080A ENA Series Network Analyzer - Configuration Guide 
This configuration guide describes standard configurations, options, accessories and peripherals for the E5080A network analyzers.

構成ガイド 2015-03-25

PDF PDF 879 KB
Automated X-Ray Inspection System Keysight Technologies - Technical Overview 
This is a technical datasheet. Keysight has developed a sealed ultra-high vacumn X-ray tube that provides stable output throughout a significantly long life.

アプリケーション・ノート 2015-03-24

PDF PDF 644 KB
Keysight WaferPro Express 
The Keysight WaferPro Express software performs automated wafer-level measurements of semiconductor devices such as transistors and circuit components. It provides turnkey drivers and test routines for a variety of instruments and wafer probers. Its user interface makes it easy to setup and run complex wafer-level test plans, while powerful customization capabilities are enabled by the new Python programming environment.

デモ 2015-03-24

 
Keysight Technologies RF/マイクロ波増幅器 
最高50 GHzの広帯域性能により、複数の狭帯域増幅器の代わりに使用して、セットアップを簡素化し、 テストシステムの動作範囲を最適化 優れた雑音指数と高い利得により、テストシステム全体の雑音指数を大幅に低減 高い出力パワーで、測定に利用可能なパワーを増幅

セレクション・ガイド 2015-03-13

Challenges and Solutions for Power Testing in Automotive Applications - Technical Overview 
This technical overview provides a synopsis of automotive electronic systems, the challenges they face and what tools automotive electronics engineers need to meet them. It concludes with a discussion of Keysight’s solutions to these challenges.

技術概要 2015-03-12

PDF PDF 1.18 MB
How to Design an RF Power Amplifier: Class E 
This video provides an introduction to Class E Power Amplifiers and demonstrates a superior, time saving methodology to design and practically realize a Class E RF power amplifier using first principles to build an ideal circuit and then utilizing circuit design tools to synthesize a more realistic circuit topology from the ideal case.

使用法の説明ビデオ 2015-03-11

 
Keysight Technologies Model Quality Assurance(MQA) 
業界標準のSPICEモデル検証プラットフォーム測定データの検証や、PDKの比較にも対応

ブローシャ 2015-03-02

PDF PDF 1.12 MB
Keysight Technologies E5080A ENAシリーズ ネットワーク・アナライザ 
Keysight E5080Aは、クラス最高の性能、柔軟な機能、高いユーザビリティーを備えた次世代 のENAです

ブローシャ 2015-02-19

PDF PDF 2.21 MB
i3070 High Node Count Test Solution - Technical Overview 
Keysight's high node count test solution allows any Keysight 3070/i3070 Series 3 or Series 5 four-module test system to be easily upgraded into an ultra-high pin count test system

技術概要 2015-02-12

PDF PDF 645 KB
Introducing Keysight E5080A ENA Vector Network Analyzer - Demo 
This video introduces the Keysight E5080A ENA vector network analyzer, which has the new touch-based GUI and offers the industry’s best combination of RF measurement performance and speed.

デモ 2015-02-12

MP4 MP4 49.80 MB
The World’s Highest Pin Count In-Circuit Test Solutions - Brochure 
Keysight's new i3070 and 3070 in-circuit test (ICT) high node count test solution is the world’s highest pin count ICT system, bringing an unprecedented level of performance and portability to users.

ブローシャ 2015-02-12

PDF PDF 212 KB
Improving Speed and Accuracy in the Testing of BTS Filters and Duplexers - Application Brief 
This application brief explains why the E5080A ENA Series Network Analyzer is the ideal solution for BTS filters and duplexers manufacturing test.

アプリケーション・ノート 2015-02-11

PDF PDF 597 KB
How to Use Envelope Tracking to Improve Power Amplifier Efficiency 
This video introduces basic concepts regarding applying envelope tracking to improve power amplifier efficiency.

使用法の説明ビデオ 2015-02-10

 
M9068A Phase Noise X-Series Measurement Application for PXI Vector Signal Analyzers 
This document provides technical and other information related to the Phase Noise X-Series measurement application for modular instruments.

技術概要 2015-02-10

PDF PDF 2.39 MB
Antenna Measurements for mm-wave Devices – MVG-Orbit/FR 
Antenna Measurements for mm-wave Devices from MCG-Orbit/FR and Keysight.

ソリューション概要 2015-02-09

 
Keysight Technologies Model Builder Program 

ブローシャ 2015-02-04

PDF PDF 1.60 MB
In-Circuit Test Suite - Brochure 
Latest board and functional test solutions to help electronics manufacturers achieve better product quality withmore comprehensive test coverage.

ブローシャ 2015-02-01

PDF PDF 10.42 MB
Keysight Technologies WaferPro Expressソフトウェア 
自動オンウエハー測定ソフトウェア

ブローシャ 2015-01-29

PDF PDF 1.28 MB
Keysight E5063A ENAシリーズ PCボード・アナライザ 
困難なプリント基板製造の問題解決に最適

技術概要 2015-01-29

E5080A ENA Series Network Analyzer - Data Sheet 
This literature describes the technical specifications for E5080A and E5092A.

データシート 2015-01-28

PDF PDF 2.90 MB

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