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デバイス・モデリング

Keysightでは、DC、CV、ノイズ、RF測定用のハードウェア/ソフトウェア・デバイス・モデリング・ソリューションを提供しています。

Keysightの測定システムは、KeysightのIC-CAP(Integrated Circuit Characterization and Analysis Program)ソフトウェアを使って、設定、制御、自動化を容易に実行できます。KeysightのIP-CAPは、業界最高のデバイス・モデリング測定/パラメータ抽出ソフトウェアであり、精密なDC、CV、Sパラメータ評価に基づいて、詳細なノンリニア・モデル・パラメータ・セットを抽出するために使用できます。IC-CAPでは、簡単に測定をセットアップし、回路シミュレーションと最適化を実行できます。また、Spectre、HSPICE、Eldo、KeysightのAdvanced Design System(ADS)などの 一般的なシミュレータのリストから回路シミュレータを選択できます。

RF/DCパラメータ測定ソリューション

推奨のIC-CAPデバイス・モデリング構成では、DC、CV、ノイズ、RFデバイス測定を実行できます。これらの構成には、半導体デバイスの正確な評価に必要なバイアス回路、ケーブル、アダプタが付属します。IC-CAPデバイス・モデリング構成は、Cascade Microtech社やSuss社などの主要なオンウェーハ測定用プローブ・ステーションと組み合わせて使用できます。

RF評価のためのSパラメータ測定には、KeysightのPNAネットワーク・アナライザが使用されます。DCおよびCV測定には、KeysightのB1500、4156またはE5720半導体パラメータ・アナライザが使用されます。Keysight 11612T/V-Kxx高周波バイアス回路は、測定システムと被試験デバイスとの間の容易なリモート接続を実現し、測定確度が向上します。詳細については、 デバイス・モデリング用推奨モデリング構成を参照してください。

オプションのインストール/スタートアップ支援

測定ハードウェアの統合、インストール、スタートアップの支援を追加サービスとして提供いたします。Keysight EEsof EDA窓口までお問い合わせください。

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イベント・カレンダー 
キーサイトのイベント、セミナ予定一覧

セミナー

 
Automating On-Wafer Measurements with the new Agilent IC-CAP WaferPro 
Originally broadcast Jan 27, 2011

ウェブセミナ(録画)

 
Fundamentals of Fast Pulsed IV Measurement Webcast 
Original broadcast January 9, 2014

ウェブセミナ(録画)

 
Fundamentals of Semiconductor Capacitance Measurement Webcast 
Original broadcast October 29, 2013

ウェブセミナ(録画)

 
New Techniques and Methods to Evaluate Power Device Switching Loss Webcast 
Live broadcast Ocotber 14, 2014; 10am PT / 1pm ET

ウェブセミナ

 
Setting Up IC-CAP WaferPro For On-Wafer Measurements 
Original broadcast June 22, 2011

ウェブセミナ(録画)