这是我们认为您想要浏览的网页。 查看搜索结果:

 

与专家联系

数字设计和互连标准

数字标准的每次更新换代都会让您的前进道路变得更加崎岖。我们在开发新产品以及与您这样的工程师协作时,对此深有体会。是德科技高速数字测试解决方案系列在我们与业界专家长期合作的基础上,将先进的仪器与广泛的专业技术完美结合。通过分享我们的最新经验,我们可以帮助您预测挑战,加快创造卓越的产品。

是德科技为您开启测量新视野,助您实现最佳设计。

通过是德科技,了解有关数字设计与互连解决方案的更多信息。 
 

观看 YouTube 视频 

1-4 / 4

排序:
The Type-C Revolution Demands Design and Test Innovations Webcast 
Original broadcast February 25, 2016

网上直播 -- 已存档的

 
USB Type-C Connector Webcast: A Validation Engineer's Dream! 
Original broadcast February 17, 2016

网上直播 -- 已存档的

 
Overcoming MIPI M-PHY Protocol Layer Test Challenges Webcast 
Live broadcast August 26, 2014; 10am PT / 1pm ET

网上直播

 
Physical Layer design challenges for PCI Express® 3.0 and 2.0 designs 
You will learn advanced techniques for PCI Express phy-layer validation covering the latest PCIe 3.0 specification requirements as well as practical extensions to PCIe 2.0 and 1.1 designs. This seminar analyzes transmitter and receiver performance.

网上直播 -- 已存档的