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教育コーナー - 研究者および教育者向け

同級生や同僚と一緒に仕事をすることで、世界を変えることもできます。この考えは受け継がれ、キーサイトの展望を開いてきました。キーサイトは研究者および教育者との有意義な共同研究に力を注いでいます。キーサイトの革新の歴史は、研究ラボでの科学や技術の飛躍的な進歩を支援し続けた歴史です。教室と実習ラボで、学生は政府機関や産業界が使用しているものと同じ測定器やソフトウェアを使用することができます。キーサイトは共同研究により、ラボおよび教室での成功を支援しています。


大学スポットライトは、教室および研究におけるキーサイトとの革新的な大学共同研究プログラムを特集しています。ユタ大学での最新の極氷の特性の詳細な調査プログラムをご覧ください。
 

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トレーニングコース一覧 
キーサイトが提供しているトレーニング(有料)一覧とスケジュールです。是非ご活用ください。

トレーニング資料 2018-01-26

 
Mastering Signal Integrity & Power Integrity Design Seminar 
Mastering Signal Integrity & Power Integrity Design Seminar

セミナのプレゼンテーション 2017-08-18

 
Understanding RF and Microwave Analysis Basics Webcast 
Live broadcast September 13, 2017; 10am PT / 1pm ET

ウェブセミナ(録画)

 
Smart Testing to Limit Your Risk Exposure in Wireless Medical Devices 
Live broadcast August 23, 2017; 10am PET / 1pm ET

ウェブセミナ

 
International Microwave Symposium (IMS) 2017 
June 4 - 9, 2017; Honolulu, Hawaii

トレードショー

 
Medical Wireless Technology Applications Offer Opportunities and Challenges 
Original broadcast July 18, 2017

ウェブセミナ

 
Automating Everyday Test and Measurement Tasks in Minutes 
Live broadcast July 19, 2017; 10am PT / 1pm ET

ウェブセミナ

 
Join Keysight Technologies at MWC Americas 2017 
MWC Americas September 12-14, 2017; San Francisco, CA

トレードショー

 
How will you Handle the Interference of Things Caused by Medical/IoT Devices? 
Original broadcast June 20, 2017

ウェブセミナ(録画)

 
Join Keysight at EuMW 2017 
EuMW 2017 is coming soon

セミナー

 
USB Type-C Physical Layer Design Webcast 
Live broadcast November 9, 2017; 10am PT / 1pm ET

ウェブセミナ(録画)

 
【無料】 EDA体験セミナー 一覧 
お客様の業務にどのようにEDAツールがお役にたてるか、実際にツール操作を体験していただくセミナーを開催しております。先着順で閉め切りますので、ぜひ早目のお申し込みをお願いします。

セミナー

 
Tutorials in Signal Integrity - Webcast Library  
Upcoming, live webcasts and past, on-demand webcasts.

ウェブセミナ

 
Characterization and Modeling Challenges for Advanced Semiconductor Technologies - Seminar Materials 
Seminar materials from the "Characterization and Modeling Challenges for Advanced Semiconductor Technologies" seminar.

セミナのプレゼンテーション 2017-08-14

 
What's New in Keysight Technologies' Device Modeling Portfolio 2017 
Highlights of new capabilities in Keysight's end-to-end device modeling portfolio, Power Electronics modeling solution preview, Wafer-level 1/f noise & Random Telegraph Noise (RTN) measurement solutions, Model Builder Program (MBP), and Model Quality Assurance (MQA).

セミナのプレゼンテーション 2017-08-10

PDF PDF 3.19 MB
Be Prepared for Next Generation MIPI Physical Layer Design and Evaluation Webcast 
Live broadcast August 24, 2017; 10am PT / 1pm ET

ウェブセミナ

 
Python-driven Table Generation in Automated Device Model Validation 
MQA is a well-known, automated SPICE model validation software that enables engineers to check and analyze SPICE model libraries, compare different models, and generate quality assurance (QA) reports in a complete and efficient way. MQA 2017 extends these capabilities by introducing the Python Report Formatting System (PyRFS) module, which allows engineers to customize tables—either generate new tables or update existing tables—in .csv and .xlsx file formats.

セミナのプレゼンテーション 2017-08-10

PDF PDF 2.41 MB
Automatable RTN Measurement Using the B1500A Semiconductor Parameter Analyzer 
As device lithographies have continued to shrink, understanding the impact of random telegraph noise (RTN) on integrated circuits has become increasingly important. Due to its innate random nature and dependence on applied voltage, characterizing RTN on a process requires many measurements to be made across a wafer at multiple gate-to-source biases. This section will cover the basics of RTN measurement and outline a cost-effective Keysight solution using WaferPro Express and the B1500A Semiconductor Device Analyzer.

セミナのプレゼンテーション 2017-08-10

PDF PDF 2.41 MB
How to Extract BSIM4 DC Model 
Model Builder Program(MBP) 2017 improves the model extraction process through the use of special utilities and scripting. This new, improved modeling process will be demonstrated on a BSIM4 transistor.

セミナのプレゼンテーション 2017-08-10

PDF PDF 955 KB
The New Re-centering Solution in MBP 2017 Update 1 
A preview of the up-coming new re-centering function for re-centering an existing model to a new specification, with fully customizable device targets definition and scaling graph visualization.

セミナのプレゼンテーション 2017-08-10

PDF PDF 1.39 MB
Static Random Access Memory (SRAM) Cell Modeling in MBP 2017 
The latest release Model Builder Program (MBP) 2017 now features a SRAM cell model generation package that’s designed to address the challenges of modern complex SRAM cell modeling, by enabling engineers to extract transistor-level and memory-cell models in one MBP session.

セミナのプレゼンテーション 2017-08-10

PDF PDF 1.44 MB
HF/Mikro­wellen­-Messungen 
Hotspots RF German main event

セミナー

 
Keysight EEsof EDA Training Course Calendar EUROPE 
Scheduled Keysight EEsof courses for EMEAI

トレーニング

 
RF and Microwave Measurement Insights 
Hotspots RF English

セミナー

 
Keysight EEsof EDA Customer Education and Services 
Brief overview of Keysight EDA Customer Education and Services.

トレーニング資料 2017-08-08

 

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