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정밀 전류-전압 분석기 시리즈

정밀 전류-전압 분석기 시리즈는 광범위한 분야에서 IV 특성에 대한 명확한 통찰력을 제공하는 정확하고 효율적인 전류-전압 측정을 보장합니다. 강력한 특성화 소프트웨어와 통합된 소스 및 측정 장치(SMU)를 사용하면 정확한 IV 특성화를 훨씬 빠르고 간단하게 얻을 수 있습니다. EasyEXPERT group+ 소프트웨어는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스와 마우스/키보드 조작을 통해 측정 설정과 실행, 데이터 분석, 데이터 관리 및 보호 등과 같은 모든 특성화 작업을 지원합니다. 전류 전압 분석기 시리즈는 경제적 모델에서 최첨단 어플리케이션을 지원할 수 있는 최첨단 분석기까지의 다양한 분야에서 특정 전류 전압 측정 요구에 적합한 다양한 IV 분석기를 제공합니다.

커브 트레이서/전력 디바이스 분석기 시리즈

키사이트 커브 트레이서/전력 디바이스 분석기는 전력 디바이스 평가를 위한 최적의 솔루션입니다. 커브 트레이서/전력 디바이스 분석기에는 3kV/20A~10kV/1500A 범위의 광범위한 전압 및 전류 범위 옵션과 모든 유형의 전력 디바이스를 처리할 수 있는 기타 기능이 있습니다. 이 시리즈는 전력 디바이스 제조업체 및 전력 전자 회로/제품 제조업체의 요구에 적합한 여러 가지 커브 트레이서를 제공합니다.

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정밀 전류-전압 분석기

정밀 전류-전압 분석기

광범위한 어플리케이션 전체에 걸쳐 분명한 통찰력을 제공하는 정밀 전류-전압 분석기 시리즈의 강력한 특성 분석 소프트웨어 및 통합 SMU가 정확하고 효율적인 전류-전압 측정을 보장합니다.

저누출 스위치 매트릭스 메인프레임

저누출 스위치 매트릭스 메인프레임

반자동 또는 전자동 웨이퍼 프로버가 포함된 스위칭 매트릭스를 사용하여 테스트 비용을 절감한 저누출 스위치 메인프레임 솔루션입니다.

전력 디바이스 분석기/커브 트레이서

전력 디바이스 분석기/커브 트레이서

다양한 전력 디바이스 분석기로 IGBT, 초접합 MOSFET, 전력 MOSFET, 사이리스터, GTO, 다이오드 등과 같은 다양한 전력 디바이스를 지원하는 전압 및 전류 범위를 폭넓게 제공합니다. IV는 물론 커패시턴스와 게이트 전하까지 평가합니다.

관련 리소스

어플리케이션 노트 2018.04.08

차세대 비휘발성 메모리 개발 가속화 | 키사이트 Keysight

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Case Studies 2022.11.08

Improving Reliability of Semiconductor Devices

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Automation of random telegraph noise measurement (RTN) is now possible using the B1500A's waveform generator/fast measurement unit (WGFMU) module and WaferPro Express.

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Flyers 2014.07.30

Top 5 Reasons to Use Keysight Precision SMU Products for Solar Cell Evaluation

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This is a flyer targeting business opportunities for solar cells / modules and will be used by FEs and AEs generate business leads. Most of existing instrument products in HSTD are related to this flyer.

2014.07.30

Technical Overviews 2023.03.28

B1500A Semiconductor Device Analyzer

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This technical overview describes the complete device characterization solution covering measurement needs from basic IV and CV to ultra-fast pulsed and transient IV measurement using the B1500A semiconductor device analyzer.

2023.03.28

Application Notes 2019.10.08

DC MOSFET Characterization at the Wafer Level

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This application note discusses the use of the B1500A semiconductor device analyzer for ultra low current DC MOSFET characterization at the wafer level.

2019.10.08

Technical Overviews 2017.11.30

Challenges and Solutions for Material Science/Engineering Testing Applications

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This technical overview introduces Keysight solutions for material science and engineering test applications.

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Application Notes 2023.01.02

IV and CV Measurement Using the B1500A MFCMU and SCUU

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This eight-page application note illustrates how an accurate IV and CV measurement system can be configured using the B1500A MFCMU and SCUU.

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성공 사례

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