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価格: 日本

* 参考価格、標準納期は予告無く変更されることがあります。詳しくはお問い合わせ下さい。 価格は希望小売価格です

主な特長と仕様

  • ISO 14577に適合
  • 非平衡ダイナミックレンジを実現する電磁アクチュエータ
  • 再現性や新アプリケーションに適応可能な柔軟性と拡張性
  • へこみの深さから堅さを連続的に測定することで動的な特性を示す
  • リアルタイム制御、容易なプロトコル開発、ドリフト補正

概要

HP/アジレントから受け継がれる原子間力顕微鏡、薄膜硬度計、走査型電子顕微鏡のラインナップをご覧ください。

薄膜硬度計(ナノインデンター) G200は、ナノ・メカニカル・テストにおいて、最も正確で、柔軟性があり、使いやすい装置です。電磁アクチュエータは、力と変移の非平衡ダイナミックレンジと、10の6乗オーダ(ナノメートルからミリメートル)でひずみの測定を実現します。半導体、超薄膜やMEMS(ウェハーにも適応)、ハード・コーティング部材やDLCフィルム、混合材長、ファイバ、そしてポリマー、金属やセラミック、そして生物材料や生物学まで幅広く適応できます。