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キーサイトは、パラメトリック・テスト・システムの業界のリーダーです
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パラメトリック・テスト・ソリューション

Keysightパラメトリックテスターにより、テストコストを削減
 
  • 超高速CPUにより、テストコストを最大20 %削減
  • プロセステストの問題を解決
  • 同期/非同期パラレルテスト機能により、測定スループットの向上とコスト削減を実現
  • 低レベル測定性能の向上
  • カスタム波形の作成
  • 移行コストの削減
非常に困難なテストの問題を解決するプラットフォームへの移行

シリーズ/製品の比較

シリーズ/製品 最大測定ピン数 最小電流測定分解能 最小電流測定分解能 最大SPGU出力チャネル数
4082A パラメトリック・テスト・システム 48 1 fA n/a n/a
4082F フラッシュ・メモリ・セルのパラメトリック・テスト・システム 48 1 fA n/a n/a
88000 HS-100 高速・高感度TFTアレイ・テスト・システム n/a n/a n/a n/a
NX5730A 高スループット1 nsパルスドIVメモリ・テスト・ソリューション
NEW!
n/a n/a n/a n/a

* 価格: 日本. 参考価格、標準納期は予告無く変更されることがあります。詳しくはお問い合わせ下さい。 価格は希望小売価格です