お問い合わせ窓口

信号発生器、電源、信号源

キーサイト・テクノロジーの個人情報の取り扱いについて キーサイトのプライバシーステートメント

  注目の情報
AMF 2014

2014年6月18日(水)、19日(木)に開催されました
世界最大の電子計測器メーカであるアジレント・テクノロジーが開催する技術セミナー&展示会イベントAgilent Measurement Forum 2014 は、大好評のうちに終了致しました。ご来場、誠にありがとうございました。

AMF Online

    お得icon 期間限定キャンペーンなど、お得な情報をまとめました!
  電子計測 最新キャンペーン情報
    s イベントやセミナの開催情報は、こちらからご確認ください。
  イベント/セミナ・カレンダー
    t トレーニングの開催スケジュールは、こちらからご確認ください。
  電子計測トレーニング・コース一覧

注目のアプリケーション情報

絞込み

絞込みのリセット

業種/テクノロジー

コンテンツのタイプ

製品カテゴリ

1-25 / 438

並べ替え
Keysight Technologies SystemVueによるLTE-Advancedの信号生成と測定
このアプリケーション・ノートでは、LTE-Advancedの主な手法と、Keysight SystemVue W1918 LTE-Advancedライブラリを使用して、ダウンリンク(DL)の直交周波数分割多元接続(OFDMA)信号源およびアップリンク(UL)のクラスタ型DFT拡散OFDM(DFT-SOFDM)信号源をMIMOを使用して作成し、閉ループ・スループットを測定する方法を紹介します。

アプリケーション・ノート 2014-10-16

Keysight Technologies MIMO受信機テスト 実環境でのMIMO受信機の正確なテスト
今日の移動無線機には、有線機器のデータ容量に対応するという共通の目標があります。

アプリケーション・ノート 2014-10-07

Keysight Technologies LTEテストにおける MIMO性能とコンディション・ナンバー
このアプリケーション・ノートでは、3GPP(3rd Generation Partnership Project)LTEの空間多重化を用いて、MIMOの基本概念を説明します。

アプリケーション・ノート 2014-10-07

Keysight Technologies LTEの動作と測定におけるMIMO:LTEテストの概要
MIMO(空間多重化とも呼ばれる)は、LTE で実装される何種類かのマルチ・アンテナ手法の1つです。このアプリケーション・ノートでは、主にMIMOの実装について説明します。

アプリケーション・ノート 2014-10-07

Keysight Technologies LTE規格に準拠したトランスミッタのACLR測定

アプリケーション・ノート 2014-10-07

Overcome Your Test Challenges with the 33600A Series Trueform Waveform Generators - Application Note
Compendium of six 33600A Series Trueform waveform generator test challenge application briefs.

アプリケーション・ノート 2014-10-02

PDF PDF 4.02 MB
Keysight U2722A/U2723A USBモジュラ測定器シリーズソース & メジャーユニット
低価格SMUソリューション

アプリケーション・ノート 2014-09-24

PDF PDF 696 KB
Get app notes for digital multilevel signalizing techniques and high-speed coherent optical -AppNote
Get app notes for digital multilevel signalizing techniques and high-speed coherent optical

アプリケーション・ノート 2014-09-22

Keysight B1505A パワーデバイス・アナライザ/カーブトレーサ
このアプリケーション・ノートでは、B1505Aに搭載された2つのHCSMUモジュールを使い、40 AまでのIV測定を実行する方法について説明しています。

アプリケーション・ノート 2014-09-16

Electronic Warfare Signal Generation: Technologies and Methods - Application Note
This application note summarizes the available technological approaches for EW signal and environment simulation, and the latest progress in flexible, high-fidelity solutions.

アプリケーション・ノート 2014-09-16

PDF PDF 545 KB
Keysight Technologies B1500Aを使用した太陽電池セルのIV/CV特性評価
Keysight B1500A 半導体デバイス・アナライザは、半導体デバイスの特性評価に用いられる標準的な測定器です。

アプリケーション・ノート 2014-09-12

Keysight Technologies Keysight B1505Aによる1500 A/10 kV IGBTの特性評価
このアプリケーション・ノートでは、B1505Aを使用してIGBTの代表的なDCパラメータを測定する方法を説明します。

アプリケーション・ノート 2014-09-11

Power-Consumption Measurements for LTE User Equipment - Application Note
This application note focuses on determining how certain parameters affect a specific smartphone's power consumption and figure out how to adjust the parameters to improve battery life.

アプリケーション・ノート 2014-08-04

PDF PDF 360 KB
PXI Interoperability-How to Achieve Multi-Vendor Interoperability in PXI Systems - Application Note
The purpose of this application note is to impart confidence through knowledge, discussions,and demonstrations of smooth implementations amd coexistence of PXI HW, SW and related tools

アプリケーション・ノート 2014-08-03

PDF PDF 6.63 MB
Wideband Digital Pre-Distortion with Keysight SystemVue and PXI Modular Instrument
Digital Pre-Distortion (DPD) is essential for wideband communications systems based on LTE-Advanced and 802.11ac. Overcome DPD challenges with trusted commercial measurement and modeling tools.

アプリケーション・ノート 2014-08-01

Solving the Challenges of Solar Array Simulation - Application Note
Solving the Challenges of Solar Array Simulation defines the optimal power solution for satellite ground testing.

アプリケーション・ノート 2014-07-31

テストの限界に挑むアジレントのモジュール計測器
テストの限界に挑むアジレントのモジュール計測器

アプリケーション・ノート 2014-07-23

IGBT Sense Emitter Current Measurement Using the Agilent B1505A - Application Note
This application note introduces how the sense emitter current, emitter current and built-in temperature sensor current/voltage of IGBT can be measured simultaneously by using the B1505A.

アプリケーション・ノート 2014-05-27

PDF PDF 201 KB
Internal Gate Resistance Measurement Using the Agilent B1505A - Application Note
This application note explains how to measure power device internal gate resistance using the B1505A and also shows an actual example measurement.

アプリケーション・ノート 2014-05-27

PDF PDF 246 KB
Thyristor Characterization Using the Agilent B1505A - Application Note
This application note provides an overview of thyristor electrical characterization using the B1505A.

アプリケーション・ノート 2014-05-19

PDF PDF 347 KB
ご存じですか? 出力抵抗可変機能で簡易型のバッテリ・シミュレータを実現!
ご存じですか? 出力抵抗可変機能で簡易型のバッテリ・シミュレータを実現!

アプリケーション・ノート 2014-05-11

Download latest J-BERT M8020A application notes to master your designs
Submit the form to begin downloading the application briefs

アプリケーション・ノート 2014-04-09

VersaPowerアーキテクチャによるパワー・テストの問題への対処
VersaPowerアーキテクチャにより、最高速、最高確度の統合型電源システムが実現し、以下が可能になります。

アプリケーション・ノート 2014-03-12

Envelope Tracking and Digital Pre-Distortion PA Testing for LTE User Terminal Components - App Note
This application note discusses measurement solutions for power amplifier testing using Envelope Tracking (ET) and lookup table (LUT)-based DPD.

アプリケーション・ノート 2014-03-07

PDF PDF 3.73 MB
Generating Looped Test Patterns or PRBS Signals with a Preamble - Application Note
This paper explains how to setup a test pattern with a preamble, which is played once e. g. to bring the tested device into a test mode, and the test data, played several times to test for errors.

アプリケーション・ノート 2014-03-04

PDF PDF 1.10 MB

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 ... 次へ