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レーザー干渉計と校正システム

キーサイトのレーザー干渉計およびレーザー校正システムは、広いダイナミックレンジでの高精度、複数の自由度で位置を測定する機能、および空気システムと真空システムの両方で利用可能な最高の精度を提供します。

Laser interferometers and calibration systems

キーサイト・テクノロジーは、レーザー干渉計およびレーザー校正システム、高度電子計測システム、高精度光コンポーネント、複合モノリシック光(CMO)、最も要求の厳しい計測アプリケーション向けの光電子工学システム設計および製造における世界的リーダーです。キーサイトのレーザー干渉計および校正システムは、広いダイナミックレンジでの高精度、複数の自由度で位置を同時に測定する機能、および空気システムと真空システムの両方で利用可能な最高の精度を提供します。

11,000 を超えるシステムの納入実績で、当社のモジュラー干渉計ソリューションは、半導体リソグラフィー、航空宇宙／防衛、計測学、および製造における最も困難なアプリケーションの精密測定の標準を確立しています。今後もキーサイトは、これらの各市場で未来を実現するレーザー干渉計とレーザー校正システムの技術革新を続けていきます。