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インサーキット・テスト・システム:3070 ICT

Keysightは、エレクトロニクス・メーカが今日の複雑なプリント基板アセンブリのさまざまなPCBAテスト・アクセスやカバレージの問題に対処するために適した、最高のボード・テスト・ソリューションを提供しています。

現在市販されている中で最高のROICの1つを搭載したi3070/i1000D ICTシステムを使用することにより、インサーキット・テストのボード・テスト・カバレージとテスト・スループットの両方が向上します。

  • インサーキット・テスト > Medalist i3070 インサーキット・テスト > Medalist i3070 

    インサーキット・テスト > Medalist i3070

    Keysight Medalist i3070は、テスト・カバレージと信頼性に優れ、高い投資効果を実現する次世代のインサーキット・テスト・システム (ICT) です。

  • 再生品の3070/i3070 ICT 再生品の3070/i3070 ICT 

    再生品の3070/i3070 ICT

    再生品およびお持ちのHP 3070やKeysight 3070/i3070 ICTシステムなど、代わりになるKeysightインサーキット・テスト・オプションをご検討になりませんか?

  • インサーキット・テスト > Medalist i1000 インサーキット・テスト > Medalist i1000 

    インサーキット・テスト > Medalist i1000

    Keysight Medalist i1000インサーキット・テスト(ICT)システムは、低価格のインサーキット・テスト・ソリューションです。低価格フィクスチャ・ソリューションを維持しつつ、デジタル・テスト機能を新たに備えました。

  • ユーティリティ・カード:LEDテスト・アプリケーション ユーティリティ・カード:LEDテスト・アプリケーション 

    ユーティリティ・カード:LEDテスト・アプリケーション

    ユーティリティ・カードによる、オンボードLEDの色と輝度の検査

  • ユーティリティ・カード・フラッシュ・プログラミング・アプリケーション ユーティリティ・カード・フラッシュ・プログラミング・アプリケーション 

    ユーティリティ・カード・フラッシュ・プログラミング・アプリケーション

    ユーティリティ・ カードをカスタム回路にプラグインするだけで、ファンクション・テストや機能をICT中に追加することができます。i3070 Series 5ユーティリティ・カードを使用すると、高性能なインシステム・フラッシュ・プログラミング(ISP)をご利用になれます。

  • ユーティリティ・カード:バウンダリ・スキャン・アプリケーション ユーティリティ・カード:バウンダリ・スキャン・アプリケーション 

    ユーティリティ・カード:バウンダリ・スキャン・アプリケーション

    この新機能を使用すれば、研究開発およびNPIステージで開発されたバウンダリ・スキャン・ソリューションを、製造環境で利用できます。

  • 制限付きアクセステストに対する製品群Super 7スイート 制限付きアクセステストに対する製品群Super 7スイート 

    制限付きアクセステストに対する製品群Super 7スイート

    さまざまな制限付きアクセステストにより、高密度回路デザインに起因するテストの問題を解決できます。

  • 3070AF ICT i3070の付属品:フィクスチャ 3070AF ICT i3070の付属品:フィクスチャ 

    3070AF ICT i3070の付属品:フィクスチャ

    フィクスチャ・キットからVTEPなどのベクタレス・テスト製品まで、ICT i3070フィクスチャの付属品を表示します。製品や部品を簡単に選択して、クイック見積もりを簡単に請求できます。

  • E9900E 3070 / i3070 ICT Rental E9900E 3070 / i3070 ICT Rental 

    E9900E 3070 / i3070 ICT Rental

    • Keysight system rentals uses the latest i3070 hardware and software
    • Keysight i3070 software features with license-to-use can be made available
    • Total peace of mind for with Keysight uptime support service

  • N1125A X1149バウンダリ・スキャン・アナライザ:4 TAP、22.5 MHz N1125A X1149バウンダリ・スキャン・アナライザ:4 TAP、22.5 MHz 

    N1125A X1149バウンダリ・スキャン・アナライザ:4 TAP、22.5 MHz

    • 4 TAP、22.5 MHz
    • Cover-Extendテクノロジー: 非スキャン・コンポーネントの高速なテスト・カバレージ
    • インシステム・プログラミング

  • アップタイム・サポートおよびサービス アップタイム・サポートおよびサービス 

    アップタイム・サポートおよびサービス

    現地での専門的なアップタイム・サポートおよびエンドツーエンド・サービスにより、実環境の製造課題に対処できます。

販売終了した自動テストシステム [販売終了製品]
販売終了した自動テストシステム&関連製品

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