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販売終了したパラメトリック・テスト機器

  • 4140B pA メータ/ DC 電圧ソース [販売・サポート終了製品] 4140B pA メータ/ DC 電圧ソース [販売・サポート終了製品] 

    4140B pA メータ/ DC 電圧ソース [販売・サポート終了製品]

    Keysight 4140B は、2000年 11月 1日に販売停止になっています。

  • 4142B 4142BモジュラDCソース/モニタ [販売・サポート終了製品] 4142B 4142BモジュラDCソース/モニタ [販売・サポート終了製品] 

    4142B 4142BモジュラDCソース/モニタ [販売・サポート終了製品]

    4142Bは2003年7月1日に販売を終了しました。E5260A 8スロット高速測定メインフレームとE5270B 8スロット精密測定メインフレームは4142Bとコード互換性があり、ほとんどのアプリケーションで4142Bの代わりに使用できます。

  • 4145A/B 半導体パラメータ・アナライザ [販売・サポート終了製品] 4145A/B 半導体パラメータ・アナライザ [販売・サポート終了製品] 

    4145A/B 半導体パラメータ・アナライザ [販売・サポート終了製品]

    Keysight 4145A は、1986年 3月 1日に販売停止になっています。

  • 4155A / 4156A / 41501A 半導体パラメータ・アナライザ [販売・サポート終了製品] 4155A / 4156A / 41501A 半導体パラメータ・アナライザ [販売・サポート終了製品] 

    4155A / 4156A / 41501A 半導体パラメータ・アナライザ [販売・サポート終了製品]

    Keysight 4155A/4156A/41501A は、1998年 1月 1日に販売停止になっています。

  • 4155B / 4156B 半導体パラメータ・アナライザ [販売・サポート終了製品] 4155B / 4156B 半導体パラメータ・アナライザ [販売・サポート終了製品] 

    4155B / 4156B 半導体パラメータ・アナライザ [販売・サポート終了製品]

    Keysight 4155B/4156B は、2000年 12月 1日に販売停止になっています。

  • 4280A 1 MHz C メータ/ C-V プロッタ [販売・サポート終了製品] 4280A 1 MHz C メータ/ C-V プロッタ [販売・サポート終了製品] 

    4280A 1 MHz C メータ/ C-V プロッタ [販売・サポート終了製品]

    Keysight 4280A は、2000年 11月 1日に販売停止になっています。

  • E5270A / E5272A / E5273A パラメトリック測定ソリューション [販売・サポート終了製品] E5270A / E5272A / E5273A パラメトリック測定ソリューション [販売・サポート終了製品] 

    E5270A / E5272A / E5273A パラメトリック測定ソリューション [販売・サポート終了製品]

    Keysight E5270A/E5272A/E5273A は、2004年 11月 1日に販売停止になっています。

  • 4157B モジュラ半導体パラメータ・アナライザ [販売終了製品] 4157B モジュラ半導体パラメータ・アナライザ [販売終了製品] 

    4157B モジュラ半導体パラメータ・アナライザ [販売終了製品]

    Keysight 4157Bは、半導体パラメトリック測定・解析のために先進のソリューション提供します。

  • VPA/PME Software [販売終了製品] VPA/PME Software [販売終了製品] 

    VPA/PME Software [販売終了製品]

    VPA/PME helps you visually analyze, manipulate, manage, and re-use large quantities of test data, reducing parametric testing time in semiconductor process, development and integration environments.

  • 4070シリーズ・アドバンスド・パラメトリック・テスト・システム [販売終了製品] 4070シリーズ・アドバンスド・パラメトリック・テスト・システム [販売終了製品] 

    4070シリーズ・アドバンスド・パラメトリック・テスト・システム [販売終了製品]

    製造におけるパラメトリック・テスト・ニーズに適合するシステム構成を取り揃えています。

  • Flat Panel Display Test Systems [販売終了製品] Flat Panel Display Test Systems [販売終了製品] 

    Flat Panel Display Test Systems [販売終了製品]

    Product information for discontinued flat panel display test systems

  • Keysight 41000シリーズ統合パラメトリック解析/評価環境(iPACE)  [販売終了製品] Keysight 41000シリーズ統合パラメトリック解析/評価環境(iPACE) [販売終了製品] 

    Keysight 41000シリーズ統合パラメトリック解析/評価環境(iPACE) [販売終了製品]

    Keysight 41000シリーズは、研究開発、ラボ、プロセス開発環境における少量のウェハーを評価するための非常に正確なCV-IVパラメトリック測定ソリューションです。

  • N9201A アレイストラクチャ・パラメトリック・テスト・オプション [販売終了製品] N9201A アレイストラクチャ・パラメトリック・テスト・オプション [販売終了製品] 

    N9201A アレイストラクチャ・パラメトリック・テスト・オプション [販売終了製品]

    最大40チャンネルのSMUをサポートし、インライン テストやアレイテスト ストラクチャの特性解析を高速に実行します。

  • 信頼性試験 [販売終了製品] 信頼性試験 [販売終了製品] 

    信頼性試験 [販売終了製品]

    先進の拡張性に富む統合された信頼性 (ASUR) 製品ファミリーは、さまざまな半導体信頼性試験、測定、および分析を提供します。

  • 半導体パラメータ・アナライザ・シリーズ [販売終了製品] 半導体パラメータ・アナライザ・シリーズ [販売終了製品] 

    半導体パラメータ・アナライザ・シリーズ [販売終了製品]

    Keysight 4155C および 4156C 半導体パラメータ・アナライザは、デスクトップEasyEXPERT 3.0 ソフトウェアを介した統合ソリューションを提供します。

  • 販売終了製品 - I/CV 3.0自動化ソフトウェア [販売・サポート終了製品] 販売終了製品 - I/CV 3.0自動化ソフトウェア [販売・サポート終了製品] 

    販売終了製品 - I/CV 3.0自動化ソフトウェア [販売・サポート終了製品]

    PCによるパラメトリック測定器の自動制御。